摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 前言 | 第7-9页 |
第二章 文献综述 | 第9-24页 |
·LiNbO_3的晶体结构 | 第9-11页 |
·LiNbO_3的物理性质及其主要特性 | 第11-14页 |
·电光特性 | 第12页 |
·压电特性 | 第12-14页 |
·LiNbO_3薄膜的研究现状 | 第14-16页 |
·LiNbO_3薄膜的制备技术 | 第16-20页 |
·溅射法(Sputtering) | 第16-17页 |
·溶胶—凝胶法(Sol-gel) | 第17-18页 |
·金属有机物气相外延(MOCVD) | 第18-20页 |
·立题背景及依据 | 第20-21页 |
参考文献 | 第21-24页 |
第三章 实验原理方法及仪器设备 | 第24-40页 |
·脉冲激光沉积(PLD)概述 | 第24-26页 |
·PLD的基本原理 | 第26-31页 |
·PLD薄膜生长实验系统简介 | 第31-34页 |
·实验流程图 | 第34-35页 |
·实验方法 | 第35-37页 |
·分析测试设备 | 第37-38页 |
参考文献 | 第38-40页 |
第四章 实验与结果讨论 | 第40-76页 |
·靶材制备与表征 | 第40-43页 |
·靶材制备 | 第40-41页 |
·靶材表征 | 第41-43页 |
·Si(111)衬底上生长LiNbO_3薄膜 | 第43-57页 |
·衬底温度对LiNbO_3/Si(111)薄膜生长的影响 | 第44-47页 |
·氧压对LiNbO_3/Si(111)薄膜生长的影响 | 第47-48页 |
·靶材与衬底的距离对LiNbO_3/Si(111)薄膜生长的影响 | 第48-50页 |
·激光频率对LiNbO_3/Si(111)薄膜生长的影响 | 第50-51页 |
·退火对LiNbO_3/Si(111)薄膜质量的影响 | 第51-54页 |
·LiNbO_3/Si(111)薄膜微结构与光学性能表征 | 第54-57页 |
·ZnO/Si衬底上生长LiNbO_3薄膜 | 第57-67页 |
·ZnO缓冲层的制备 | 第57-58页 |
·衬底温度对LiNbO_3/ZnO/Si薄膜生长的影响 | 第58-60页 |
·氧压对LiNbO_3/ZnO/Si薄膜生长的影响 | 第60-61页 |
·靶材与衬底的距离对LiNbO_3/ZnO/Si薄膜生长的影响 | 第61-62页 |
·缓冲层厚度对LiNbO_3/ZnO/Si薄膜生长的影响 | 第62-63页 |
·LiNbO_3/ZnO/Si薄膜微结构与光学性能表征 | 第63-64页 |
·LiNbO_3/ZnO/Si薄膜的化学组分分析 | 第64-67页 |
·其它衬底上生长LiNbO_3薄膜 | 第67-73页 |
·Si(100)衬底上生长LiNbO_3薄膜 | 第67-68页 |
·玻璃衬底上生长LiNbO_3薄膜 | 第68-69页 |
·蓝宝石衬底上生长LiNbO_3薄膜 | 第69-73页 |
·不同衬底上薄膜的表面形貌与晶体质量比较 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-76页 |
第五章 结论 | 第76-77页 |
硕士期间已投递论文 | 第77-78页 |
致谢 | 第78页 |