高分辨粉末中子衍射谱仪的设计和部分硬件的研制
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-8页 |
| 1 引言 | 第8-18页 |
| 1．1 概述 | 第8页 |
| 1．2 中子衍射的特点 | 第8-11页 |
| 1．3 中子粉末衍射技术的意义 | 第11-12页 |
| 1．4 粉末衍射仪的国内外发展现状 | 第12-17页 |
| 1．5 本论文的研究内容 | 第17-18页 |
| 2 粉末衍射仪参数选择的基本依据——设计概念 | 第18-29页 |
| 2．1 粉末衍射谱的基本组成结构 | 第18-20页 |
| 2．2 粉末衍射谱仪的设计要点 | 第20页 |
| 2．3 谱仪的分辨率与起飞角 | 第20-24页 |
| 2．4 谱仪的分辨率与准直系统 | 第24-26页 |
| 2．5 谱仪的分辨率与强度 | 第26-28页 |
| 2．6 谱仪的工作波长选择 | 第28-29页 |
| 3 新堆旁高分辨粉末中子衍射仪的设计概要 | 第29-35页 |
| 3．1 单色器部件 | 第29-31页 |
| 3．2 中子准直系统和准直器 | 第31页 |
| 3．3 第三准直器/探测器阵列 | 第31-32页 |
| 3．4 谱仪的几何安排和各组成部分的基本要求 | 第32-33页 |
| 3．5 谱仪的分辨率估计 | 第33-34页 |
| 3．6 谱仪的强度估计 | 第34-35页 |
| 4 部分谱仪部件的研制 | 第35-56页 |
| 4．1 Soller型中子准直器的研制 | 第35-37页 |
| 4．2 中子准直器的制造工艺 | 第37-38页 |
| 4．3 准直器的性能测量 | 第38-40页 |
| 4．4 准直器的优化设计 | 第40-43页 |
| 4．4．1 Gd_O_3吸收厚度优化 | 第40-41页 |
| 4．4．2 长度选择 | 第41-43页 |
| 4．4．3 小结 | 第43页 |
| 4．5 数据获取与控制系统的研制 | 第43-48页 |
| 4．5．1 放大器的研制 | 第46-47页 |
| 4．5．2 计数器和集成高压电源的研制 | 第47-48页 |
| 4．6 中子散射谱仪垂直锗聚焦单色器的设计与优化 | 第48-56页 |
| 4．6．1 蒙特卡罗模拟技术 | 第49-51页 |
| 4．6．2 MCSTAS模拟程序 | 第51-52页 |
| 4．6．3 垂直锗聚焦单色器的设计与优化 | 第52-53页 |
| 4．6．4 新堆粉末衍射谱仪聚焦单色器模拟优化 | 第53-56页 |
| 4．6．4．1 模拟装置 | 第53-54页 |
| 4．6．4．2 聚焦单色器优化研究 | 第54-56页 |
| 5 结论 | 第56-59页 |
| 参考文献 | 第59-64页 |
| 在读期间科研成果 | 第64-65页 |
| 声明 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
