| 第一章 绪论 | 第1-19页 |
| ·温差电材料概述 | 第8-11页 |
| ·塞贝克效应 | 第8-9页 |
| ·珀尔帖效应 | 第9页 |
| ·汤姆逊效应 | 第9-10页 |
| ·优值Z | 第10-11页 |
| ·温差电材料的发展现状 | 第11-14页 |
| ·低维温差电材料的量子效应 | 第14-17页 |
| ·德布罗意波长 | 第14页 |
| ·低维材料的量子限制 | 第14-17页 |
| ·温差电材料的发展趋势 | 第17-18页 |
| ·薄膜温差电材料的应用前景 | 第18页 |
| ·论文的主要工作 | 第18-19页 |
| 第二章 实验方法 | 第19-25页 |
| ·实验仪器设备 | 第19页 |
| ·镀液组成及试样 | 第19-20页 |
| ·电沉积体系及工艺 | 第20-21页 |
| ·试样前处理 | 第20-21页 |
| ·电沉积装置 | 第21页 |
| ·电化学测试 | 第21-23页 |
| ·电化学测试试样 | 第21页 |
| ·电化学测试装置 | 第21-22页 |
| ·测试溶液组成 | 第22-23页 |
| ·阴极极化曲线的测试 | 第23页 |
| ·循环伏安曲线的测试 | 第23页 |
| ·组成及结构分析 | 第23-24页 |
| ·X 射线衍射(XRD)分析 | 第23-24页 |
| ·X 光电子能谱(XPS)分析 | 第24页 |
| ·扫描电镜(SEM)分析 | 第24页 |
| ·温差电性能分析 | 第24-25页 |
| 第三章 N 型Bi_(2-X)Te_(3+X)薄膜温差电材料的制备 | 第25-35页 |
| ·沉积过程分析 | 第25-29页 |
| ·纯铋溶液的循环伏安曲线 | 第25-26页 |
| ·纯碲溶液的循环伏安曲线 | 第26-27页 |
| ·铋-碲镀液的循环伏安曲线 | 第27-28页 |
| ·阴极极化曲线的测定 | 第28页 |
| ·控电位沉积过程i-t 关系 | 第28-29页 |
| ·电沉积工艺研究 | 第29-30页 |
| ·结构和组成分析 | 第30-33页 |
| ·Bi_(2-X)Te_(3+X) 薄膜厚度分析 | 第30-31页 |
| ·Bi_(2-X)Te_(3+X) 薄膜的表面形貌分析 | 第31页 |
| ·Bi_(2-X)Te_(3+X) 薄膜的XRD 分析 | 第31-33页 |
| ·温差电性能研究 | 第33-35页 |
| ·Bi_(2-X)Te_(3+X) 薄膜温差电性能与温度的关系 | 第33页 |
| ·Bi_(2-X)Te_(3+X) 薄膜的电阻与温度的关系 | 第33-35页 |
| 第四章 P 型(Bi_(1-x)Sb_x)_2Te_3薄膜温差电材料的制备 | 第35-46页 |
| ·沉积过程分析 | 第35-38页 |
| ·纯铋溶液的循环伏安曲线 | 第35-36页 |
| ·纯碲溶液循环伏安曲线 | 第36页 |
| ·纯锑镀液的循环伏安曲线 | 第36-37页 |
| ·铋-碲-锑三元镀液的循环伏安曲线 | 第37-38页 |
| ·电沉积工艺研究 | 第38-40页 |
| ·温度的影响 | 第38-39页 |
| ·不同电位对电沉积(Bi_(1-x)Sb_x)_2Te_3 薄膜性能的影响 | 第39-40页 |
| ·结构和组成分析 | 第40-44页 |
| ·(Bi_(1-x)Sb_x)_2Te_3 薄膜的厚度分析 | 第40-41页 |
| ·(Bi_(1-x)Sb_x)_2Te_3 薄膜的表面形貌分析 | 第41页 |
| ·(Bi_(1-x)Sb_x)_2Te_3 薄膜的XPS 分析 | 第41-42页 |
| ·(Bi_(1-x)Sb_x)_2Te_3 薄膜的EDS 分析 | 第42-43页 |
| ·(Bi_(1-x)Sb_x)_2Te_3 薄膜的XRD 分析 | 第43-44页 |
| ·温差电性能研究 | 第44-46页 |
| ·(Bi_(1-x)Sb_x)_2Te_3 薄膜的温差电性能与温度的关系 | 第44-45页 |
| ·(Bi_(1-x)Sb_x)_2Te_3 薄膜材料电阻与温度的关系 | 第45-46页 |
| 第五章 温差电性能测试系统的设计及建立 | 第46-64页 |
| ·测试的原理 | 第46页 |
| ·卡具设计 | 第46-49页 |
| ·卡具示意图 | 第46-47页 |
| ·测试对象 | 第47页 |
| ·温差的建立及测温装置 | 第47-48页 |
| ·环境温度 | 第48-49页 |
| ·Seebeck 电动势的测量 | 第49页 |
| ·数据自动采集体系的设计 | 第49-53页 |
| ·设计原理 | 第49页 |
| ·数据自动采集的实现 | 第49-53页 |
| ·测试系统的建立 | 第53-55页 |
| ·数据转换模式 | 第53页 |
| ·测试系统的构造 | 第53-54页 |
| ·测试软件及工作界面 | 第54-55页 |
| ·测试系统的性能分析 | 第55-59页 |
| ·测试控温精度 | 第55-57页 |
| ·Seebeck 电动势的测试精度 | 第57页 |
| ·塞贝克系数的测试精度 | 第57-58页 |
| ·系统的升降温曲线分析 | 第58-59页 |
| ·温差电测试系统的应用 | 第59-64页 |
| ·块状温差电材料的性能测试 | 第59-60页 |
| ·薄膜温差电材料的性能测试 | 第60-62页 |
| ·纳米线阵列温差电材料的性能测试 | 第62-64页 |
| 第六章 结论 | 第64-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 硕士期间发表的论文 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
