| 第1章 光纤折射率分布测量的现状 | 第1-16页 |
| ·光纤的重要地位以及折射率测量的重要意义 | 第9页 |
| ·目前折射率分布测量的常用方法 | 第9-14页 |
| ·折射近场法(Reflected Near Field method) | 第9-11页 |
| ·干涉法(Interference Method) | 第11-12页 |
| ·原子力-蚀刻法(Atomic Force Microscopy) | 第12-13页 |
| ·聚焦法(Focusing Method) | 第13-14页 |
| ·国内折射率分布测量的现状 | 第14页 |
| ·小结 | 第14-16页 |
| 第2章 干涉系统测量折射率分布的现状与发展 | 第16-24页 |
| ·概述 | 第16页 |
| ·常用的几种干涉测量法 | 第16-22页 |
| ·双光束干涉法 | 第16-18页 |
| ·多光束干涉法 | 第18-19页 |
| ·全息干涉法 | 第19-20页 |
| ·侧向干涉法 | 第20-21页 |
| ·微分干涉法 | 第21-22页 |
| ·小结 | 第22-24页 |
| 第3章 微分干涉显微镜的基本原理 | 第24-37页 |
| ·定量测量理论 | 第24-34页 |
| ·光路追迹和光强表达式 | 第26-27页 |
| ·光程差χ的表达式 | 第27-30页 |
| ·物体相位信息分布的表达式 | 第30-32页 |
| ·定量测量过程 | 第32-34页 |
| ·透射式系统与反射式系统的比较 | 第34-36页 |
| ·小结 | 第36-37页 |
| 第4章 光纤折射率分布的还原算法 | 第37-45页 |
| ·还原算法的意义 | 第37-38页 |
| ·数学模型以及推导 | 第38-41页 |
| ·光线通过1层的情形 | 第39页 |
| ·光线通过2层的情形 | 第39页 |
| ·光线通过3层的情形 | 第39-40页 |
| ·光线通过k层的情形 | 第40页 |
| ·层数N无限大的情形 | 第40-41页 |
| ·还原算法的公式以及计算过程 | 第41-43页 |
| ·小结 | 第43-45页 |
| 第5章 系统组成以及实验结果 | 第45-62页 |
| ·系统结构 | 第45-47页 |
| ·系统的调整 | 第47-51页 |
| ·各个器件的最终位置关系 | 第47-48页 |
| ·Nomarski主棱镜(棱镜2)的位置调整 | 第48-49页 |
| ·起偏器以及检偏器0度位置 | 第49-50页 |
| ·1/4波片的位置 | 第50-51页 |
| ·Nomarski副棱镜(棱镜1)的调整 | 第51页 |
| ·样品的制备 | 第51-52页 |
| ·测量步骤 | 第52-54页 |
| ·实验结果 | 第54-61页 |
| ·多模光纤 | 第54-56页 |
| ·双模光纤 | 第56-58页 |
| ·单模光纤与单模 | 第58页 |
| ·单模光纤与单模光纤对焊处的测量 | 第58-61页 |
| ·小结 | 第61-62页 |
| 第6章 系统定标以及稳定性实验 | 第62-69页 |
| ·系统定标 | 第62-66页 |
| ·用于标定K的对比实验 | 第64-66页 |
| ·系统稳定性实验 | 第66-68页 |
| ·小结 | 第68-69页 |
| 第7章 误差以及稳定性分析 | 第69-91页 |
| ·还原算法误差分析 | 第69-78页 |
| ·方程组的条件数 | 第70-72页 |
| ·分层所引入的误差 | 第72-75页 |
| ·光线偏折造成的影响 | 第75-78页 |
| ·DIC系统引入误差 | 第78-88页 |
| ·相位测量精度分析 | 第80-85页 |
| ·还原物体相位分布的计算误差 | 第85-86页 |
| ·Nomarski棱镜对测量结果的影响 | 第86-88页 |
| ·测量系统的其他误差分析 | 第88-89页 |
| ·光源的影响 | 第88页 |
| ·离焦对测量结果的影响 | 第88-89页 |
| ·小结 | 第89-91页 |
| 结 论 | 第91-93页 |
| 参考文献 | 第93-96页 |
| 致谢、声明 | 第96-97页 |
| 个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第97页 |
