| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1．1 引言 | 第8-12页 |
| 1．2 饱和校正的研究现状 | 第12-13页 |
| 1．3 本文的研究内容及结构安排 | 第13-14页 |
| 第二章 合成孔径雷达原理及ADC饱和效应研究 | 第14-28页 |
| 2．1 合成孔径雷达原理 | 第14-23页 |
| 2．1．1 SAR距离分辨 | 第14-18页 |
| 2．1．1．1 线性调频脉冲 | 第15-16页 |
| 2．1．1．2 匹配滤波器 | 第16-18页 |
| 2．1．2 合成孔径雷达的方位分辨 | 第18-23页 |
| 2．1．2．1 合成孔径的匹配滤波实现 | 第20-23页 |
| 2．2 ADC饱和效应研究 | 第23-27页 |
| 2．2．1 饱和研究相关的几个概念 | 第24-25页 |
| 2．2．2 ADC饱和对输出数据统计特性的影响 | 第25-26页 |
| 2．2．3 不同量化级ADC的比较分析 | 第26-27页 |
| 2．3 小结 | 第27-28页 |
| 第三章 饱和校正方法的研究 | 第28-47页 |
| 3．1 基于分布目标的饱和校正方法 | 第28-40页 |
| 3．1．1 饱和校正原理 | 第28-29页 |
| 3．1．2 基于地物幅度概率分布的饱和校正策略 | 第29-33页 |
| 3．1．2．1 瑞利分布 | 第30-31页 |
| 3．1．2．2 对数正态分布 | 第31页 |
| 3．1．2．3 韦布尔分布 | 第31-32页 |
| 3．1．2．4 K分布 | 第32-33页 |
| 3．1．3 基于单参数模型的饱和校正 | 第33-35页 |
| 3．1．4 基于双参数模型的饱和校正 | 第35-37页 |
| 3．1．5 瑞利和韦布尔饱和校正方法的比较研究 | 第37-40页 |
| 3．1．5．1 仿真数据的实验分析 | 第37-39页 |
| 3．1．5．2 实际数据的实验结果 | 第39-40页 |
| 3．2 基于点目标的饱和校正方法研究 | 第40-46页 |
| 3．2．1 基于点目标的小信号功率补偿法 | 第41-43页 |
| 3．2．2 饱和校正方法的实现 | 第43-45页 |
| 3．2．3 点目标饱和校正方法与分布目标饱和校正方法比较 | 第45-46页 |
| 3．3 小结 | 第46-47页 |
| 第四章 饱和校正应用于图像的研究 | 第47-59页 |
| 4．1 ADC量化对成像处理器增益的影响 | 第48-51页 |
| 4．1．1 幅度误差对成像处理器增益的影响 | 第49-50页 |
| 4．1．2 相位误差对成像处理器增益的影响 | 第50-51页 |
| 4．2 仿真数据分析 | 第51-55页 |
| 4．2．1 点目标原始数据输出标准偏差对成像处理器增益的影响 | 第52-53页 |
| 4．2．2 分布目标原始数据输出标准偏差对成像处理器增益的影响 | 第53-55页 |
| 4．3 真实数据的分析 | 第55-58页 |
| 4．4 小结 | 第58-59页 |
| 第五章 结束语 | 第59-61页 |
| 附录 | 第61-65页 |
| 最小二乘法 | 第61-63页 |
| 曲线拟合结果优劣性的评估 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 硕士期间发表文章目录 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
