低密度校验码的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-10页 |
| 1.1 信道编码的基本类型 | 第6-7页 |
| 1.2 编码性能测度的标准 | 第7页 |
| 1.3 信道容量和SHANNON极限定理 | 第7-8页 |
| 1.4 两类接近SHANNON极限的编码 | 第8页 |
| 1.5 本文的主要研究工作和内容安排 | 第8-10页 |
| 第二章 二进制线性分组码 | 第10-16页 |
| 2.1 线性分组码最佳译码器 | 第10-12页 |
| 2.2 单比特校验码的MAP译码算法 | 第12-14页 |
| 2.3 线性分组码因子图表示 | 第14-16页 |
| 第三章 低密度校验码与和积译码算法 | 第16-29页 |
| 3.1 低密度校验码基本的编码方法和码结构 | 第18-21页 |
| 3.2 和积译码算法 | 第21-29页 |
| 第四章 低密度校验码的性能估计与分析 | 第29-47页 |
| 4.1 密度进化理论 | 第29-33页 |
| 4.2 低密度校验码的高斯估计 | 第33-36页 |
| 4.3 低密度校验码的EXIT图分析法 | 第36-47页 |
| 第五章 多级串行级联LDPC码的构造与性能分析 | 第47-57页 |
| 5.1 多级串行级联LDPC码的编译码模型 | 第47-49页 |
| 5.2 子码的构造和分析 | 第49-50页 |
| 5.3 MC_LDPC码的构造方法和码结构 | 第50-53页 |
| 5.4 MC_LDPC码的性能分析 | 第53-57页 |
| 第六章 结束语 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 致谢 | 第62页 |