国内外复合片成分组织差异分析及机理研究
第1章 引言 | 第1-16页 |
·选题的目的和意义 | 第7-9页 |
·复合片结构与性能的影响因素 | 第9-11页 |
·催化剂Co对复合片结构与性能的影响 | 第9页 |
·硬质合金衬底对复合片的影响 | 第9-10页 |
·金刚石粉料对复合片的影响 | 第10页 |
·界面结构对复合片的影响 | 第10页 |
·残余应力对复合片的影响 | 第10-11页 |
·聚晶金刚石-硬质合金复合片的测试技术现状 | 第11-14页 |
·金刚石微粉杂质含量的测定 | 第11-12页 |
·拉曼光谱分析 | 第12页 |
·扫描电镜(SEM)分析测试 | 第12-13页 |
·X-射线光电子能谱(XPS)分析 | 第13页 |
·X-射线结构分析(XRD) | 第13-14页 |
·电子探针分析(EPMA) | 第14页 |
·本文的研究内容和目标 | 第14-16页 |
第2章 金刚石微粉的测试 | 第16-28页 |
·研究方法 | 第16-18页 |
·样品来源 | 第16页 |
·测试分析方法 | 第16-18页 |
·测试分析结果与讨论 | 第18-26页 |
·样品的粒度分布 | 第18-20页 |
·样品的微观形貌分析 | 第20-21页 |
·杂质的定性分析 | 第21-22页 |
·杂质的定量分析 | 第22-26页 |
·本章小结 | 第26-28页 |
第3章 聚晶金刚石-硬质合金复合片的对比测试 | 第28-47页 |
·测试样品的准备 | 第28-29页 |
·样品来源 | 第28页 |
·样品处理 | 第28页 |
·样品结构 | 第28-29页 |
·测试分析方法 | 第29-31页 |
·X-射线衍射分析(XRD) | 第29页 |
·X-射线光电子能谱分析(XPS) | 第29页 |
·显微激光拉曼光谱分析(FRS) | 第29-30页 |
·扫描电子显微镜(SEM)分析 | 第30-31页 |
·电子探针(EPMA)分析 | 第31页 |
·测试图谱及分析 | 第31-46页 |
·X-射线衍射分析(XRD)结果 | 第31-33页 |
·X-射线光电子能谱分析(XPS) | 第33-35页 |
·显微激光拉曼光谱分析(FRS)结果 | 第35-37页 |
·扫描电子显微镜(SEM)分析结果 | 第37-43页 |
·电子探针(EPMA)分析结果 | 第43-46页 |
·本章小结 | 第46-47页 |
第4章 国内PDC制造工艺的改善 | 第47-55页 |
·PDC制造工艺简述 | 第47-48页 |
·金刚石粉料的质量控制 | 第48-49页 |
·粉料的予处理 | 第49-50页 |
·屏蔽材料的改进 | 第50-51页 |
·金刚石微粉的粒度配比改进 | 第51-52页 |
·金刚石混料方式的改进 | 第52页 |
·硬质合金材料的选择 | 第52页 |
·Co含量的确定 | 第52-53页 |
·金刚石-硬质合金界面 | 第53页 |
·应力调整 | 第53-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
第5章 结论 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-59页 |
致谢 | 第59页 |