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数控系统可靠性评价体系

第一章 绪论第1-12页
   ·课题来源第5页
   ·本课题研究的目的和意义第5-7页
     ·目的第5页
     ·意义第5-7页
   ·可靠性研究的发展现状第7-9页
     ·国内现状第7-8页
     ·国外现状第8-9页
   ·数控系统可靠性的发展前景第9-10页
   ·本论文的研究重点第10-12页
第二章 数控系统的可靠性抽样检验第12-21页
   ·概述第12页
   ·抽样检验的基本原理第12-13页
   ·可靠性抽样的一般程序第13-20页
     ·选择抽样检查类型第13页
     ·确定抽样检查方式第13-14页
     ·数控系统可接受的可靠寿命与极限寿命第14页
     ·确定抽样方案与抽取样本第14-15页
     ·定时截尾一次抽样方案第15-20页
   ·本章小结第20-21页
第三章 数控系统可靠性评价体系第21-45页
   ·可靠性分布模型的确定第21-31页
     ·统计假设第21页
     ·分布模型的确定第21-31页
   ·数控系统分布模型的假设检验第31-32页
   ·数控系统可靠性指标的熵权综合评价方法第32-44页
     ·综合评价的概念第33-34页
     ·评价的原则第34页
     ·综合评价指标的确定及综合评定第34-44页
   ·本章小结第44-45页
第四章 数控系统的可靠性评价及试验规范第45-63页
   ·概述第45页
   ·数控系统可靠性评价和试验规范的研究内容第45-58页
     ·数控系统的可靠性评价指标第45-46页
     ·数控系统可靠性试验规范第46-49页
     ·数控系统软件可靠性保证措施第49-58页
   ·数控系统可靠性设计第58-62页
     ·数控系统可靠性设计准则第58-59页
     ·数控系统可靠性设计检查表第59页
     ·数控系统可靠性评审方案第59-62页
   ·本章小结第62-63页
第五章 结论第63-64页
致谢第64-65页
参考文献第65-73页

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