首页--工业技术论文--机械、仪表工业论文--仪器、仪表论文--光学仪器论文--显微镜论文

基于平板扫描器的新型原子力显微镜的研制及应用

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-8页
第一章 绪论第8-22页
 §1.1 纳米技术概述第8-12页
  §1.1.1 纳米技术的发展现状第8-10页
  §1.1.2 纳米技术的应用第10-12页
 §1.2 微纳米检测技术的发展第12-17页
  §1.2.1 电子显微镜(EM)技术第12-14页
  §1.2.2 扫描隧道显微镜(STM)技术第14-15页
  §1.2.3 原子力显微镜(AFM)技术的发展及应用第15-17页
 §1.3 本文的主要研究内容及研究成果第17-20页
 参考文献第20-22页
第二章 AFM的基本原理与方法第22-34页
 §2.1 AFM的基本工作原理第22-23页
 §2.2 AFM系统的组成第23-24页
 §2.3 微悬臂偏转量的检测方法第24-27页
  §2.3.1 常用的几种检测方法第25-26页
  §2.3.2 光束偏转法第26-27页
 §2.4 压电陶瓷扫描器第27-33页
  §2.4.1 压电效应第27-29页
  §2.4.2 压电陶瓷的推拉式控制方法第29-30页
  §2.4.3 压电陶瓷扫描器的特性第30-31页
  §2.4.4 传统压电陶瓷扫描器的类型及优缺点第31-33页
 参考文献第33-34页
第三章 基于平板扫描器的新型AFM系统的研制第34-56页
 §3.1 系统总体设计第34-35页
 §3.2 AFM探头的研制第35-43页
  §3.2.1 扫描结构的选择第36-37页
  §3.2.2 平板扫描器的研制第37-38页
  §3.2.3 Z向反馈控制器的设计第38-39页
  §3.2.4 微探针的选择第39-40页
  §3.2.5 粗调与微调进给机构的研制第40-41页
  §3.2.6 光电检测系统及几何光路设计第41-43页
 §3.3 控制电路及硬件部分第43-49页
  §3.3.1 平板扫描驱动电路第43-44页
  §3.3.2 前置放大电路及PID反馈控制电路第44-47页
  §3.3.3 A/D与D/A接口第47-49页
 §3.4 软件设计与优化第49-52页
  §3.4.1 扫描控制软件的开发第49-50页
  §3.4.2 图像处理软件系统第50-52页
 §3.5 系统其它部分的研制第52-55页
  §3.5.1 CCD显微摄像监控系统第52-53页
  §3.5.2 XY微动平台的设计第53-55页
 参考文献第55-56页
第四章 基于平板扫描器的AFM系统的误差分析及性能优化第56-65页
 §4.1 平板扫描器的性能优化研究第56-59页
  §4.1.1 大范围均匀扫描的研究第56-58页
  §4.1.2 扫描速度的影响及优化第58-59页
  §4.1.3 结构误差的分析和优化研究第59页
 §4.2 系统电路的分析及优化第59-61页
  §4.2.1 扫描驱动电路精度的分析第59-60页
  §4.2.2 其他电路部分的优化第60-61页
 §4.3 压电陶瓷的非线性及校正第61-63页
 §4.4 其它因素的影响分析第63-64页
 参考文献第64-65页
第五章 基于平板扫描器的AFM系统的实验及应用研究第65-77页
 §5.1 平板扫描器与传统压电扫描器的对比实验第65-69页
  §5.1.1 多孔氧化铝小范围扫描实验第65-66页
  §5.1.2 光栅的中范围扫描实验第66-67页
  §5.1.3 光栅的大范围扫描实验第67-69页
 §5.2 金属膜的AFM测试实验研究第69-72页
  §5.2.1 镀银薄膜的纳米结构图像第69-70页
  §5.2.2 镀金膜的成膜过程研究第70-72页
 §5.3 其他材料的扫描实验第72-75页
  §5.3.1 有机材料CuPc的扫描实验第72-74页
  §5.3.2 锗量子点的AFM纳米结构图像第74-75页
 §5.4 基于平板扫描器的AFM系统的其他应用研究第75-76页
 参考文献第76-77页
第六章 总结与展望第77-80页
 §6.1 研究工作总结第77-78页
 §6.2 展望第78-80页
致谢第80页

论文共80页,点击 下载论文
上一篇:超磁致伸缩精密位移驱动器的热分析与控制
下一篇:基于嵌入式系统的动态称重系统