内容提要 | 第1-7页 |
第1章 绪论 | 第7-10页 |
·NAND Flash为成长最快速的内存 | 第7页 |
·小型闪存卡应用面广 | 第7-8页 |
·NAND Flash走入PC领域取代硬盘之趋势明显 | 第8页 |
·本文的组织结构 | 第8-10页 |
第2章 Flash的分类及比较 | 第10-14页 |
·NOR和NAND分类 | 第10-12页 |
·MLC与SLC分类 | 第12-13页 |
·小页与大页分类 | 第13-14页 |
第3章 大小页NAND的物理结构 | 第14-20页 |
·小页存储结构和地址周期(以K9F1208为例) | 第14-15页 |
·大页存储结构和地址周期(以K9F1G08为例) | 第15-17页 |
·S3C2440启动过程 | 第17-18页 |
·小页改大页的硬件修改 | 第18-20页 |
第4章 JTAG烧写启动程序 | 第20-24页 |
·Jtag介绍 | 第20-21页 |
·边界扫描 | 第21-22页 |
·TAP(TEST ACCESS PORT) | 第22-23页 |
·Jtag驱动原理 | 第23-24页 |
第5章 Bootloader中Copy stage2部分 | 第24-30页 |
·Bootloader的基本概念: | 第24页 |
·ARM Bootloader的一般作用 | 第24-25页 |
·Bootloader的启动流程 | 第25-27页 |
·Bootloader中的NAND操作 | 第27页 |
·NAND分区禾口Checksum | 第27-30页 |
第6章 Bsp中FMD驱动 | 第30-37页 |
·BSP包介绍 | 第30页 |
·FMD介绍 | 第30-33页 |
·NAND参数结构定义 | 第33-34页 |
·FMD驱动 | 第34-37页 |
第7章 NAND Flash ECC及坏块处理 | 第37-47页 |
·ECC校验原理 | 第37-39页 |
·ECC算法实现 | 第39页 |
·Nand spare区域 | 第39-43页 |
·S3C2440 ECC Control | 第43-45页 |
·NAND Flash坏块处理 | 第45-47页 |
第8章 NAND Flash扩展应用 | 第47-51页 |
·剩余NAND Flash区作U盘 | 第47-49页 |
·内存分配调整 | 第49-51页 |
结论 | 第51-52页 |
参考文献 | 第52-53页 |
附录A | 第53-60页 |
附录B | 第60-69页 |
附录C | 第69-80页 |
附录D | 第80-84页 |
摘要 | 第84-86页 |
Abstract | 第86-89页 |
致谢 | 第89页 |