| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| ·课题背景 | 第8-13页 |
| ·视频编码的必要性和可行性 | 第9页 |
| ·视频编码基本框架和标准简介 | 第9-12页 |
| ·视频编码标准中DCT 的发展状况及其研究意义 | 第12-13页 |
| ·论文主要研究内容 | 第13-14页 |
| ·论文结构安排 | 第14-15页 |
| 第二章 离散余弦变换快速算法与硬件结构 | 第15-32页 |
| ·正交变换简介 | 第15-16页 |
| ·正交变换去相关性的基本原理 | 第15页 |
| ·正交变换实现数据压缩的物理本质 | 第15-16页 |
| ·典型的正交变换 | 第16页 |
| ·DCT 原理 | 第16-19页 |
| ·1D FDCT/IDCT 定义 | 第16-17页 |
| ·2D FDCT/IDCT 定义 | 第17-19页 |
| ·FDCT 快速算法 | 第19-25页 |
| ·奇偶分解法 | 第20-21页 |
| ·W.H.Chen 算法 | 第21-23页 |
| ·Loeffler 算法 | 第23-25页 |
| ·IDCT 快速算法 | 第25页 |
| ·DCT 的硬件结构 | 第25-31页 |
| ·基于乘法器和加法器的DCT 结构 | 第27页 |
| ·基于分配算法的DCT 结构 | 第27-28页 |
| ·基于脉动阵列的DCT 结构 | 第28-30页 |
| ·基于CORDIC 运算技术的DCT 结构 | 第30页 |
| ·其他结构 | 第30-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第三章 离散余弦变换的设计与功能仿真 | 第32-63页 |
| ·设计思想 | 第32-33页 |
| ·2D FDCT/IDCT 电路结构 | 第32页 |
| ·1D FDCT/IDCT 电路结构 | 第32-33页 |
| ·转置RAM 的结构 | 第33页 |
| ·运算数据理论位宽 | 第33页 |
| ·设计精度 | 第33-39页 |
| ·误差产生原因及其影响 | 第33-34页 |
| ·IDCT 误差的解决办法 | 第34-35页 |
| ·基于IEEE 标准1180—1990 的精度测量与选择 | 第35-39页 |
| ·FDCT/IDCT 电路设计 | 第39-57页 |
| ·奇偶分解法电路结构 | 第39-41页 |
| ·W.H.Chen 算法电路结构 | 第41-43页 |
| ·Loeffler 算法电路结构 | 第43-44页 |
| ·IDCT 快速算法电路结构 | 第44-47页 |
| ·快速算法电路子模块设计 | 第47-54页 |
| ·转置RAM 设计 | 第54-56页 |
| ·控制单元的设计 | 第56-57页 |
| ·FDCT/IDCT 电路分析 | 第57-58页 |
| ·时序分析 | 第57页 |
| ·乘法加法运算分析 | 第57-58页 |
| ·FDCT/IDCT 电路功能仿真 | 第58-61页 |
| ·FDCT 电路功能仿真 | 第58-60页 |
| ·IDCT 电路功能仿真 | 第60-61页 |
| ·小结 | 第61-63页 |
| 第四章 离散余弦变换的逻辑综合与FPGA 验证 | 第63-71页 |
| ·逻辑综合与性能分析 | 第63-64页 |
| ·CMOS 图像传感器的验证平台 | 第64-68页 |
| ·验证平台简介 | 第64-65页 |
| ·Data_Collect 模块设计 | 第65-68页 |
| ·算法验证 | 第68-70页 |
| ·FDCT 验证 | 第68-69页 |
| ·IDCT 验证 | 第69-70页 |
| ·小结 | 第70-71页 |
| 第五章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |