摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-15页 |
·中子辐射俘获反应概述 | 第9-10页 |
·中子辐射俘获反应截面测量的意义 | 第10-11页 |
·中子辐射俘获反应截面测量的方法 | 第11-15页 |
第二章 GTAF探测装置介绍 | 第15-20页 |
·测量原理 | 第15页 |
·GTAF探测器部分 | 第15-17页 |
·单探测器模块 | 第17-18页 |
·中子束流监视器与中子捕集器 | 第18页 |
·数据获取系统 | 第18-20页 |
第三章 单探测器模块建立及 GTAF装置首次在束实验 | 第20-33页 |
·单探测器包装 | 第20-23页 |
·探测器材料选择 | 第20-21页 |
·探测器包装 | 第21-23页 |
·性能测试 | 第23-28页 |
·时间分辨测试 | 第23-24页 |
·能量分辨率及长期稳定性测试 | 第24-26页 |
·单探测器上架后的测试 | 第26-28页 |
·首次在束实验 | 第28-33页 |
·中子源、屏蔽体准直器、探测器、样品、监视器及其几何放置 | 第29-30页 |
·数据获取 | 第30-31页 |
·实验存在的问题 | 第31-33页 |
第四章 锂玻璃探测器的蒙特卡罗模拟与探测效率实验刻度方案 | 第33-51页 |
·中子束流监视器 | 第33-35页 |
·中子束流监视器的蒙特卡罗模拟 | 第35-44页 |
·Geant4简介 | 第35-37页 |
·束流监视器的相关 Geant4模拟 | 第37-44页 |
·探测效率 | 第37-40页 |
·空气-铝壳的散射效应对束流监视影响的模拟分析 | 第40-41页 |
·多次散射造成的时间滞后对 TOF方法测量中子能谱的影响 | 第41-43页 |
·不同厚度的锂玻璃探测器的n-γ分辨效果 | 第43-44页 |
·探测效率实验刻度方案制定 | 第44-51页 |
·中子探测效率常用刻度方法 | 第44-47页 |
·绝对刻度 | 第44-46页 |
·相对刻度 | 第46-47页 |
·锂玻璃探测效率实验刻度方案 | 第47-51页 |
第五章 结论 | 第51-52页 |
参考文献 | 第52-55页 |
硕士研究生期间参加的工作和相关论文 | 第55-56页 |
致谢 | 第56页 |