ADM设备主盘的研究与实现
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-13页 |
| ·本文的研究背景和意义 | 第10-11页 |
| ·本文的内容与安排 | 第11-13页 |
| 第2章 ADM设备原理 | 第13-20页 |
| ·SDH技术基础 | 第13-15页 |
| ·SDH帧结构 | 第13-14页 |
| ·SDH的复用原理 | 第14-15页 |
| ·ADM设备特点与应用 | 第15-16页 |
| ·ADM设备逻辑组成 | 第16-20页 |
| 第3章 主盘的设计 | 第20-54页 |
| ·主盘的功能要求 | 第20-22页 |
| ·主盘的设计方案 | 第22-23页 |
| ·线性接口单元 | 第23-28页 |
| ·光模块设计 | 第23-25页 |
| ·复用/解复用模块设计 | 第25-28页 |
| ·净荷处理单元 | 第28-44页 |
| ·RST模块设计 | 第33-34页 |
| ·MST模块设计 | 第34-36页 |
| ·MSA模块设计 | 第36-39页 |
| ·HPT模块设计 | 第39-41页 |
| ·HPA模块设计 | 第41-42页 |
| ·控制接口设计 | 第42-44页 |
| ·交叉连接单元 | 第44-50页 |
| ·同步单元 | 第50-52页 |
| ·控制接口单元 | 第52-54页 |
| 第4章 主盘的测试 | 第54-68页 |
| ·测试环境 | 第54-55页 |
| ·功能测试 | 第55-63页 |
| ·环回测试 | 第56-57页 |
| ·时钟倒换测试 | 第57-58页 |
| ·交叉连接测试 | 第58-60页 |
| ·MSP保护测试 | 第60-62页 |
| ·长期误码率测试 | 第62-63页 |
| ·光接口测试 | 第63-68页 |
| ·接收灵敏度测试 | 第63-64页 |
| ·过载光功率测试 | 第64-65页 |
| ·输入抖动容限测试 | 第65-66页 |
| ·平均发送光功率测试 | 第66-67页 |
| ·发送光信号眼图测试 | 第67-68页 |
| 结论 | 第68-70页 |
| 总结 | 第68页 |
| 展望 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第74-75页 |
| 附录 | 第75-85页 |
| 附录一 TTF模式和 ALS时间参数设置 | 第75-80页 |
| 附录二 RST和 MST功能参数配置 | 第80-83页 |
| 附录三 指针解释/生成器配置 | 第83-85页 |
