| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 1 概述 | 第11-14页 |
| ·研究背景 | 第11-13页 |
| ·研究内容 | 第13-14页 |
| 2 读出电路设计 | 第14-33页 |
| ·红外焦平面阵列读出电路介绍 | 第14-18页 |
| ·读出电路设计 | 第18-31页 |
| ·模拟电路部分的介绍 | 第19-23页 |
| ·数字电路部分的设计 | 第23-26页 |
| ·电路版图 | 第26-28页 |
| ·数字电路部分的仿真 | 第28-31页 |
| ·本章小结 | 第31-33页 |
| 3 流片后的测试与分析 | 第33-58页 |
| ·测试目的 | 第33页 |
| ·I/O定义 | 第33-38页 |
| ·测试系统介绍 | 第38-40页 |
| ·测试结果与分析 | 第40-54页 |
| ·Lastpart_1测试 | 第41-54页 |
| ·Lastpart_2测试 | 第54页 |
| ·问题的分析 | 第54-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 4 有关可测性设计的研究 | 第58-91页 |
| ·可测性设计介绍 | 第58-60页 |
| ·可测性设计目标 | 第58页 |
| ·可测性设计思想 | 第58页 |
| ·可测性设计规则 | 第58页 |
| ·利于测试矢量产生的设计规则 | 第58-59页 |
| ·利于测试矢量施加的设计规则 | 第59-60页 |
| ·内建自测试(BIST) | 第60-61页 |
| ·边界扫描技术 | 第61-65页 |
| ·组合电路的可测性设计 | 第65-74页 |
| ·基于Reed-Muller模式的组合电路故障定位方法 | 第65-67页 |
| ·基于逻辑函数的ESOP形式 | 第67-71页 |
| ·Syndrome设计法 | 第71-74页 |
| ·时序电路的可测性设计 | 第74-80页 |
| ·可扫描单元类型 | 第74-78页 |
| ·如何提高故障覆盖率 | 第78-80页 |
| ·使用DFTC进行可测性设计 | 第80-82页 |
| ·I_(DDQ)测试 | 第82-85页 |
| ·I_(DDQ)测试机理 | 第82-84页 |
| ·I_(DDQ)测量方法 | 第84-85页 |
| ·模拟电路可测性设计 | 第85-90页 |
| ·本章小结 | 第90-91页 |
| 5 结束语 | 第91-92页 |
| ·总结 | 第91页 |
| ·不足与进一步工作 | 第91-92页 |
| 参考文献 | 第92-94页 |
| 作者简历 | 第94-96页 |
| 学位论文数据集 | 第96页 |