| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·FPGA 的概述 | 第9-11页 |
| ·FPGA 的基本特点 | 第9-10页 |
| ·FPGA 的工作原理 | 第10页 |
| ·FPGA 的优势 | 第10-11页 |
| ·FPGA 的工艺结构 | 第11-12页 |
| ·基于SRAM 结构的FPGA | 第11页 |
| ·基于反融丝结构的FPGA | 第11页 |
| ·基于Flash 结构的FPGA | 第11-12页 |
| ·FPGA 的发展趋势 | 第12-13页 |
| ·国内FPGA 的发展现状 | 第13-14页 |
| ·课题的提出 | 第14-15页 |
| 第二章 FPGA 的基本结构介绍 | 第15-26页 |
| ·可编程逻辑模块CLB | 第15-17页 |
| ·输入输出块IOB | 第17-19页 |
| ·块状 SelectRAM | 第19-20页 |
| ·互连资源 | 第20-22页 |
| ·其他重要的结构 | 第22-26页 |
| 第三章 用 Verilog 语言实现 BRAM 的各个模块以及相关分析 | 第26-55页 |
| ·BRAM 的端口信号介绍 | 第26-27页 |
| ·BRAM 的各个模块说明 | 第27-55页 |
| ·OE_Control 模块 | 第27-33页 |
| ·工作模式输入模块Mode_select_in | 第33-37页 |
| ·工作模式输出模块Mode_Select_out | 第37-40页 |
| ·字线译码模块WL_Decoder | 第40-47页 |
| ·数据选择模块Select_data | 第47-51页 |
| ·存储胞元阵列模块Store_Array | 第51-55页 |
| 第四章 BRAM 的整体分析 | 第55-82页 |
| ·BRAM 的整个程序描述 | 第55-60页 |
| ·BRAM 的全芯片仿真 | 第60-75页 |
| ·BRAM 的全芯片单端口仿真 | 第60-64页 |
| ·BRAM 的全芯片双端口仿真 | 第64-75页 |
| ·复位信号无效时，对双端口不同的地址进行读、写 | 第65-69页 |
| ·复位信号有效时，对双端口不同的地址进行读、写 | 第69-71页 |
| ·复位信号无效时，对双端口相同的地址进行读、写 | 第71-74页 |
| ·复位信号有效时，对双端口相同的地址进行读、写 | 第74-75页 |
| ·BRAM 的时序仿真 | 第75-81页 |
| ·仿真CLK 到DOUT 的TBCKO 时间 | 第75-76页 |
| ·仿真DIN 数据输入建立时间TBDCK | 第76-77页 |
| ·仿真地址ADD 的建立时间TBACK | 第77-78页 |
| ·仿真复位RST 的建立时间TBRCK | 第78-79页 |
| ·仿真写使能WEN 的建立时间TBWCK | 第79-80页 |
| ·仿真使能EN 的建立时间TBECK | 第80-81页 |
| ·BRAM 的版图实现 | 第81-82页 |
| 第五章 结论 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-86页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第86-87页 |