摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-24页 |
·电接触科学的重要意义 | 第10-11页 |
·微动简介 | 第11-17页 |
·电接触中的微动现象 | 第11-12页 |
·国内外对微动的研究情况 | 第12-13页 |
·微动的机理研究现状 | 第13-15页 |
·影响微动的因素 | 第15-17页 |
·可靠性理论与工程应用简介 | 第17-21页 |
·可靠性工程的国内外发展概况 | 第17-18页 |
·可靠性特征量 | 第18-20页 |
·用威布尔分布描述的寿命分布 | 第20-21页 |
·课题来源、内容及意义 | 第21-24页 |
·课题来源 | 第21-22页 |
·课题主要研究内容 | 第22页 |
·课题意义和创新点 | 第22-24页 |
第二章 实验设备与方案 | 第24-31页 |
·微动实验系统简介 | 第24-25页 |
·大幅值微动台简介 | 第25-26页 |
·扫描电子显微镜(SEM)和X射线能谱仪(EDS)简介 | 第26-29页 |
·扫描电子显微镜 | 第26-28页 |
·X射线能谱仪 | 第28-29页 |
·微动实验设计 | 第29-31页 |
第三章 多种材料组合的典型微动接触性能 | 第31-51页 |
·双边贵金属接触对的接触电阻 | 第31-34页 |
·单边贵金属接触对的接触电阻 | 第34-41页 |
·Au/Ni接触对的接触电阻 | 第34-37页 |
·Au/Cu接触对的接触电阻 | 第37-39页 |
·Au/SS接触对的接触电阻 | 第39-41页 |
·非贵金属接触对的接触电阻 | 第41-49页 |
·Ni/Ni接触对的接触电阻 | 第41-43页 |
·Ni/Cu接触对的接触电阻 | 第43-45页 |
·Cu/Cu接触对的接触电阻 | 第45-47页 |
·SS/Ni、SS/Cu、SS/SS接触对的接触电阻 | 第47-49页 |
·微动可靠性的分级 | 第49-51页 |
第四章 影响贵金属微动的因素研究 | 第51-58页 |
·影响因素综述 | 第51-52页 |
·微动幅值的影响 | 第52-55页 |
·接触压力的影响 | 第55-58页 |
第五章 非贵金属接触对的微动可靠性 | 第58-68页 |
·研究对象的选取 | 第58页 |
·可靠性工程数学在本研究中的应用 | 第58-61页 |
·以接触电阻为寿命依据的威布尔分布 | 第58-60页 |
·接触对的寿命分布 | 第60-61页 |
·Cu/Ni和Ni/Cu接触对的可靠性比较 | 第61-63页 |
·接触电阻平稳阶段的寿命分布 | 第63-65页 |
·接触电阻上升阶段的寿命分布 | 第65-67页 |
·小结 | 第67-68页 |
第六章 微动频率对非贵金属微动的影响 | 第68-74页 |
·几种材料组合在小微动频率下的电阻特性 | 第68-69页 |
·微动频率的改变带来的影响 | 第69-73页 |
·实验结果的初步分析——微动频率与各阶段微动次数的关系 | 第70-72页 |
·实验数据的处理——微动频率与微动次数函数的拟合 | 第72-73页 |
·微动频率影响微动可靠性的机理 | 第73-74页 |
第七章 总结与展望 | 第74-76页 |
·总结 | 第74-75页 |
·展望 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-78页 |
致谢 | 第78-79页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第79页 |