X射线荧光CT的重建与衰减校正方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-17页 |
| 1.1.1 CT的出现和发展 | 第11-16页 |
| 1.1.2 X射线荧光CT的发展 | 第16-17页 |
| 1.2 本论文研究意义 | 第17页 |
| 1.3 本文的组织安排 | 第17-19页 |
| 第2章 X射线荧光CT成像的基本原理 | 第19-39页 |
| 2.1 X射线物理基础 | 第19-26页 |
| 2.1.1 X射线的产生 | 第20页 |
| 2.1.2 特征X射线 | 第20-21页 |
| 2.1.3 X射线与物质的相互作用 | 第21-26页 |
| 2.1.3.1 X射线的经典散射 | 第22页 |
| 2.1.3.2 不相干散射 | 第22-23页 |
| 2.1.3.3 二次特征辐射与光电效应 | 第23-24页 |
| 2.1.3.4 X射线的衰减规律 | 第24-26页 |
| 2.2 CT成像基本原理 | 第26-30页 |
| 2.2.1 中心切片定理 | 第26-27页 |
| 2.2.2 从投影重建图像 | 第27-30页 |
| 2.2.2.1 直接反投影算法 | 第28页 |
| 2.2.2.2 滤波反投影算法 | 第28页 |
| 2.2.2.3 迭代重建算法 | 第28-30页 |
| 2.3 X射线荧光CT的物理机制 | 第30-34页 |
| 2.3.1 X射线与物质的相互作用机制 | 第30-33页 |
| 2.3.2 光子计数型探测器基础 | 第33-34页 |
| 2.4 X射线荧光CT的基本结构 | 第34-36页 |
| 2.4.1 X射线管 | 第34-35页 |
| 2.4.2 准直器 | 第35页 |
| 2.4.3 X射线探测器 | 第35-36页 |
| 2.4.4 荧光探测器 | 第36页 |
| 2.5 X射线荧光CT的成像机制 | 第36-37页 |
| 2.6 本章小结 | 第37-39页 |
| 第3章 衰减校正算法 | 第39-47页 |
| 3.1 X射线荧光CT的衰减原理及校正思路 | 第39-40页 |
| 3.2 预校正法和后校正法 | 第40页 |
| 3.2.1 预校正法 | 第40页 |
| 3.2.2 后校正法 | 第40页 |
| 3.3 本征法 | 第40-44页 |
| 3.3.1 指数反投影法 | 第41-43页 |
| 3.3.2 Bellini法 | 第43页 |
| 3.3.3 Inouye法 | 第43页 |
| 3.3.4 Metz法 | 第43-44页 |
| 3.4 迭代法 | 第44页 |
| 3.5 各种方法的讨论 | 第44-45页 |
| 3.6 本章小结 | 第45-47页 |
| 第4章 OSEM重建算法及衰减校正 | 第47-63页 |
| 4.1 算法介绍 | 第47-49页 |
| 4.2 数字模型验证 | 第49-52页 |
| 4.2.1 模型制作 | 第49页 |
| 4.2.2 模拟结果 | 第49-52页 |
| 4.2.2.1 定量分析 | 第50-51页 |
| 4.2.2.2 OSEM重建算法最佳子集数的选择 | 第51-52页 |
| 4.3 加入衰减校正的OSEM重建算法 | 第52-55页 |
| 4.3.1 算法介绍 | 第53页 |
| 4.3.2 荧光吸收系数 | 第53-55页 |
| 4.4 数字模型验证 | 第55-59页 |
| 4.4.1 数字模型制作 | 第55-57页 |
| 4.4.2 荧光吸收系数评估 | 第57页 |
| 4.4.3 模拟结果 | 第57-59页 |
| 4.5 衰减图 | 第59-61页 |
| 4.6 本章小结 | 第61-63页 |
| 第5章 模拟数据结果与讨论 | 第63-69页 |
| 5.1 仿真数据处理 | 第63-64页 |
| 5.2 模拟数据重建分析 | 第64-66页 |
| 5.2.1 投影图像分析 | 第64-65页 |
| 5.2.2 断层图分析 | 第65页 |
| 5.2.3 能谱图分析 | 第65-66页 |
| 5.3 模拟数据衰减校正分析 | 第66-67页 |
| 5.4 本章小结 | 第67-69页 |
| 第6章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 6.1 总结 | 第69页 |
| 6.2 展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 研究生期间论文发表情况 | 第79页 |
