摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
目录 | 第6-9页 |
图录 | 第9-10页 |
表录 | 第10-11页 |
第一章 绪论 | 第11-20页 |
1.1 旁路功耗攻击风险评估研究背景 | 第11-15页 |
1.2 旁路功耗攻击风险评估研究现状 | 第15-16页 |
1.3 旁路功耗攻击风险评估的目的和意义 | 第16页 |
1.4 本文主要研究工作 | 第16-18页 |
1.5 本文的组织结构 | 第18-20页 |
第二章 功耗攻击风险量化方法的相关理论 | 第20-31页 |
2.1 风险评估方法 | 第20-22页 |
2.1.1 定性评估方法 | 第21页 |
2.1.2 定量评估方法 | 第21页 |
2.1.3 定量与定性相结合的评估方法 | 第21-22页 |
2.2 信息论的相关概念 | 第22-24页 |
2.2.1 信息熵 | 第22-23页 |
2.2.2 联合熵与条件熵 | 第23页 |
2.2.3 相对熵与互信息 | 第23-24页 |
2.3 核函数相关概念 | 第24-29页 |
2.3.1 概率密度函数估计 | 第25页 |
2.3.2 全参数估计方法 | 第25-26页 |
2.3.3 无参数估计方法 | 第26-27页 |
2.3.4 半参数估计方法 | 第27-28页 |
2.3.5 h 值的确定 | 第28-29页 |
2.3.6 高斯核函数 | 第29页 |
2.4 本章小结 | 第29-31页 |
第三章 功耗攻击下 AES 密码芯片脆弱点识别 | 第31-43页 |
3.1 AES 密码芯片的基本特征 | 第31-33页 |
3.1.1 AES 算法概述 | 第31-33页 |
3.2 S 盒操作过程中的脆弱点 | 第33-36页 |
3.2.1 S 盒操作过程 | 第33-34页 |
3.2.2 S 盒操作脆弱点识别 | 第34-36页 |
3.3 轮密钥加过程中的脆弱点识别 | 第36-37页 |
3.4 其他运算中的脆弱点 | 第37-42页 |
3.4.1 密钥扩展算法过程中的脆弱点识别 | 第38-40页 |
3.4.2 密码芯片初始化过程中的脆弱点识别 | 第40-42页 |
3.5 本章小结 | 第42-43页 |
第四章 模板功耗攻击下密码芯片风险量化方法 | 第43-54页 |
4.1 TA 攻击过程 | 第43-45页 |
4.1.1 构建模板 | 第43-45页 |
4.1.2 模板匹配 | 第45页 |
4.2 TA 攻击风险的量化方法 | 第45-50页 |
4.2.1 TA 攻击风险量化方法的离线操作 | 第45-46页 |
4.2.2 TA 攻击风险量化方法的在线操作 | 第46-47页 |
4.2.3 门级功耗量的计算 | 第47-48页 |
4.2.4 TA 攻击风险量化方法 | 第48-50页 |
4.3 识别操作时刻风险值 | 第50-52页 |
4.3.1 对分析对象建模 | 第50-51页 |
4.3.2 TA 攻击下随机时间延迟模型的风险分析 | 第51-52页 |
4.4 防护方法对风险值的影响 | 第52-53页 |
4.4.1 动态双轨逻辑防护策略对风险值的影响 | 第52页 |
4.4.2 随机时钟周期防护策略对风险值的影响 | 第52页 |
4.4.3 噪声源防护策略对风险值的影响 | 第52页 |
4.4.4 掩码技术 | 第52-53页 |
4.5 本章小结 | 第53-54页 |
第五章 DPA 攻击下密码芯片风险量化方法 | 第54-60页 |
5.1 DPA 攻击过程 | 第54-55页 |
5.1.1 在线运行阶段 | 第54-55页 |
5.1.2 信号处理阶段 | 第55页 |
5.1.3 密钥猜测阶段 | 第55页 |
5.1.4 统计检测阶段 | 第55页 |
5.2 攻击过程的模型分析 | 第55-56页 |
5.3 DPA 攻击下密码芯片风险的量化方法 | 第56-59页 |
5.3.1 核函数估计概率密度 | 第57-58页 |
5.3.2 互信息的计算 | 第58-59页 |
5.4 本章小结 | 第59-60页 |
第六章 旁路功耗攻击下密码芯片风险量化方法的验证 | 第60-66页 |
6.1 FPGA 设计与验证方法概述 | 第60-62页 |
6.1.1 FPGA 概述 | 第60页 |
6.1.2 硬件描述语言 VerilogHDL | 第60-61页 |
6.1.3 开发工具 QuartusII 简介 | 第61-62页 |
6.2 量化方法的测试与验证 | 第62-66页 |
6.2.1 TA 攻击下密码芯片风险量化方法的验证 | 第62-64页 |
6.2.2 DPA 攻击下密码芯片风险量化方法的验证 | 第64-66页 |
第七章 总结与展望 | 第66-68页 |
7.1 总结 | 第66-67页 |
7.2 展望 | 第67-68页 |
致谢 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-72页 |
作者简历 | 第72页 |