| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 1.绪论 | 第10-25页 |
| 1.1.引言 | 第10-11页 |
| 1.2.半导体光催化技术简介 | 第11-14页 |
| 1.3.光催化效率的影响因素 | 第14-18页 |
| 1.4.铜锌锡硫(CZTS)概述 | 第18-23页 |
| 1.5.研究的意义与内容 | 第23-25页 |
| 2.实验方案与样品制备 | 第25-33页 |
| 2.1.实验仪器和设备 | 第25页 |
| 2.2.实验药品 | 第25-26页 |
| 2.3. CZTS粉末的制备 | 第26-28页 |
| 2.4. CZTS薄膜的制备 | 第28-29页 |
| 2.5.样品的表征与分析 | 第29-31页 |
| 2.6. CZTS粉末的光催化性能测试 | 第31-32页 |
| 2.7. CZTS薄膜的电学性能测试 | 第32-33页 |
| 3. CZTS粉末的测试结果与讨论 | 第33-46页 |
| 3.1.反应温度对合成CZTS粉末形貌与结构的影响 | 第33-37页 |
| 3.2.表面活性剂PVP含量对合成CZTS粉末形貌与结构的影响 | 第37-41页 |
| 3.3. CZTS粉体的EDS表征 | 第41-42页 |
| 3.4. CZTS粉末紫外-可见吸收光谱的测试 | 第42页 |
| 3.5. CZTS粉末光催化性能的测试 | 第42-45页 |
| 3.6.本章小结 | 第45-46页 |
| 4. CZTS薄膜测试结果与探讨 | 第46-56页 |
| 4.1.不同锡源对CZTS薄膜晶体结构与形貌的影响 | 第46-48页 |
| 4.2.反应时间对CZTS薄膜晶体结构与形貌的影响 | 第48-51页 |
| 4.3. CZTS薄膜的EDS表征 | 第51-52页 |
| 4.4. CZTS薄膜紫外-可见吸收光谱的测试 | 第52-53页 |
| 4.5. CZTS薄膜的电学性能的测试 | 第53-55页 |
| 4.6.本章小结 | 第55-56页 |
| 5.全文总结及展望 | 第56-58页 |
| 5.1.全文总结 | 第56-57页 |
| 5.2.工作展望 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-68页 |
| 附录 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第68页 |
