摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-8页 |
第一章 引言 | 第8-10页 |
第二章 北京正负电子对撞机(BEPCⅡ)和北京谱仪(BESⅢ)介绍 | 第10-33页 |
·北京正负电子对撞机(BEPCⅡ) | 第10-12页 |
·北京谱仪(BESⅢ) | 第12-33页 |
·束流管(Beam Pipe) | 第14页 |
·主漂移室(Main Drift Chamber) | 第14-16页 |
·飞行时间计数器(Time of Flight) | 第16-17页 |
·电磁量能器(Electromagnetic Calorimeter) | 第17-19页 |
·μ子探测器(Muon Identifier) | 第19-20页 |
·超导磁铁(Superconducting Magnet) | 第20-21页 |
·触发系统 | 第21-22页 |
·数据获取系统 | 第22-23页 |
·离线数据分析系统 | 第23-28页 |
·BESⅢ数据 | 第28-33页 |
第三章 ψ(2S)→π~0(η)J/ψ两种强子跃迁过程的实验研究 | 第33-56页 |
·理论背景 | 第33页 |
·蒙特卡罗模拟及数据产生的情况 | 第33-34页 |
·对ψ(2S)→π~0(ΥΥ)J/ψ(l~+l_-)衰变分支比的实验测量 | 第34-44页 |
·事例选择 | 第34-40页 |
·对本底事例的细致研究 | 第40-42页 |
·输入输出检查及真实数据共振态拟合 | 第42-44页 |
·对ψ(2S)→η(γγ)J/ψ(l~+l~-)衰变分支比的实验测量 | 第44-54页 |
·事例选择 | 第44-47页 |
·对本底事例的细致研究 | 第47-50页 |
·输入输出检查及真实数据共振态拟合 | 第50-54页 |
·两个衰变道的衰变分支比及其比值R的总结 | 第54-56页 |
第四章 两个衰变道的实验研究误差分析 | 第56-74页 |
·统计误差 | 第56-57页 |
·系统误差 | 第57-74页 |
·两衰变道相关的角分布 | 第57-58页 |
·e/μ的径迹重建效率 | 第58-64页 |
1. 一般的事例选择条件 | 第60页 |
2. 最终的事例选择条件 | 第60-61页 |
3. 最终的结果 | 第61-64页 |
·4C运动学拟合 | 第64-67页 |
1. 一般的事例选择条件 | 第65-66页 |
2. 最终的事例选择条件 | 第66页 |
3. 最终的结果 | 第66-67页 |
·π~0/η的两光子重建效率 | 第67页 |
·本底的形状 | 第67-68页 |
·信号拟合 | 第68-70页 |
·J/ψ→e~+e_-/μ~+μ~-的衰变分支比 | 第70页 |
·π~0/η→γγ的衰变分支比 | 第70页 |
·ψ(2S)的数据事例总数 | 第70页 |
·柱状图分Bin | 第70-73页 |
·系统误差的总结 | 第73-74页 |
第五章 总结和展望 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-77页 |
致谢 | 第77页 |