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BESⅢ主漂移室模拟真实化调试

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-11页
第一章 引言第11-18页
   ·粒子物理学及其实验第11-13页
   ·高能物理实验中蒙特卡罗模拟第13-15页
   ·漂移室模拟真实化第15-16页
   ·课题内容及论文结构第16-18页
第二章 北京正负电子对撞机(BEPCⅡ)和北京谱仪(BESⅢ)第18-30页
   ·北京正负电子对撞机(BEPC Ⅱ)第18页
   ·北京谱仪(BESⅢ)第18-30页
     ·对撞区和束流管第21页
     ·主漂移室(MDC)第21页
     ·飞行时间计数器(TOF)第21-22页
     ·电磁量能器(EMC)第22-24页
     ·μ子探测器第24-25页
     ·超导磁铁第25页
     ·触发判选系统第25-26页
     ·电子学系统第26-27页
     ·在线数据获取系统第27页
     ·离线软件系统第27-28页
     ·BESⅢ离线软件框架(BOSS)第28-30页
第三章 BESⅢ主漂移室和探测器模拟第30-49页
   ·BESⅢ漂移室介绍第30-37页
     ·漂移室的性能要求与总体设计考虑第30-32页
     ·漂移室的物理设计第32-36页
   1. 单元结构第32-33页
   2. 丝层安排第33页
   3. 工作气体第33-35页
   4. BESⅢ漂移室的机械设计第35-36页
     ·漂移室的性能第36-37页
   1. 探测效率第36-37页
   2. 漂移距离和漂移时间的关系第37页
   ·探测器模拟系统和主漂移室的模拟构建第37-49页
     ·BESⅢ探测器模拟系统(BOOST)第37-42页
   1. BOOST软件框架的设计第38页
   2. 探测器模拟过程第38-40页
   3. Geant4简介第40-42页
     ·主漂移室的模拟构建第42-45页
   1. 主漂移室的几何描述第42-43页
   2. 物质材料的定义第43页
   3. 丝层和漂移单元的构建第43-45页
     ·主漂移室的击中信息和数值化第45-49页
   1. 击中信息的记录第46-47页
   2. 数值化第47-49页
第四章 主漂移室的模拟调试第49-76页
   ·主漂移室模拟调试软件和调试流程第49-51页
     ·模拟调试(Simulation Tuning)第49-50页
     ·主漂移室模拟调试软件框架第50页
     ·模拟调试流程第50-51页
   ·主漂移室模拟调试算法第51-55页
     ·击中丝效率第51-53页
     ·空间丝分辨第53-55页
   ·模拟调试的具体过程第55-76页
     ·本底噪声混合第55-57页
     ·击中效率的调试第57-59页
     ·空间分辨的调试第59-67页
   1. 残差分布和双高斯拟合第59-64页
   2. f的调试第64-65页
   3. μ的调试第65-66页
   4. δ的调试第66-67页
     ·调试的最终结果第67-69页
     ·对端盖的调试第69-71页
     ·不变质量偏移第71-73页
     ·X-T关系问题的研究第73-76页
第五章 总结和展望第76-78页
附录A BESⅢ漂移室丝层安排表第78-81页
参考文献第81-84页
攻读硕士学位期间完成的论文第84页

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