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高频元器件用导电Ag端浆及La2O3-xSiO2低介陶瓷材料的研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-12页
第一章 绪论第12-29页
   ·厚膜电子浆料概述第12-14页
     ·国内外电子浆料的发展现状第12-13页
     ·厚膜电子浆料的分类第13-14页
   ·端电极的形成机理及对浆料的工艺要求第14-15页
     ·端电极的形成及导电机理第14-15页
     ·浆料涂覆的工艺要求第15页
   ·导电 Ag 浆主要原料的研究进展第15-22页
     ·Ag 粉的制备及其对浆料性能的影响第15-18页
     ·粘结相的研究进展及其对浆料性能的影响第18-20页
     ·有机载体的制备及其对浆料性能的影响第20-22页
   ·高温烧结型导电 Ag 端浆存在的问题及发展趋势第22-23页
     ·导电 Ag 浆存在的问题第22页
     ·高温烧结型导电 Ag 浆的发展趋势第22-23页
   ·低介陶瓷材料体系的研究进展第23-27页
     ·Al_20_3 系低介陶瓷材料第23-24页
     ·MAl_20_4 (M=Mg,Zn) 系低介陶瓷材料第24-25页
     ·硅酸盐系低介陶瓷材料第25-27页
   ·本文的研究背景、内容和创新点第27-29页
     ·本文的研究背景第27页
     ·本文的研究内容第27-28页
     ·论文的创新点第28-29页
第二章 实验方法和设备第29-36页
   ·实验主要原料及设备第29-30页
     ·实验原料第29-30页
     ·实验设备第30页
     ·其他第30页
   ·浆料的制备及表征第30-33页
     ·有机载体的制备第30页
     ·玻璃相的制备及表征第30-32页
     ·导电相的制备和表征第32-33页
     ·导电银端浆的制备和表征第33页
   ·La_20_(3-x)Si02 低介陶瓷材料的制备第33-34页
     ·实验制备工艺第33-34页
     ·实验步骤第34页
   ·导电厚膜和 La_20_(3-x)Si0_2 低介陶瓷材料的表征第34-36页
     ·厚膜方阻测试第34-35页
     ·微观形貌分析第35页
     ·XRD 相结构分析第35页
     ·厚膜电极 X-ray 透射分析仪第35页
     ·La_20_(3-x)Si0_2 低介陶瓷材料的介电性能测试第35-36页
第三章 导电银厚膜端电极浆料的研究与制备第36-44页
   ·前言第36页
   ·实验过程第36页
     ·试样制备第36页
     ·样品测试第36页
   ·结果和讨论第36-43页
     ·浆料的流变性能研究第36-37页
     ·表面活性剂对浆料流变性的影响第37-40页
     ·银厚膜的机械和电学性质第40-42页
     ·烧结温度对银厚膜微观结构的影响第42-43页
   ·本章小结第43-44页
第四章 导电银厚膜的晶粒生长机理及微观结构研究第44-53页
   ·前言第44-45页
   ·实验过程第45页
     ·试样制备第45页
     ·样品测试第45页
   ·结果和讨论第45-51页
     ·银厚膜晶粒的取向性生长和微观结构研究第45-47页
     ·银厚膜的晶粒生长机理研究第47-50页
     ·多面-去多面晶界的研究第50页
     ·纳米镍颗粒在厚膜表面的电沉积研究第50-51页
   ·本章小结第51-53页
第五章 La_20_(3-x)Si0_2 低介微波介质陶瓷材料的研究第53-63页
   ·引言第53页
   ·样品的 TG/DSC 分析第53-54页
   ·样品的相结构分析第54-56页
   ·样品的微观形貌分析第56-57页
   ·La_20_(3-x)Si0_2 陶瓷的介电性能测试第57-61页
     ·La_20_(3-x)Si0_2 随烧结温度的变化关系第57-59页
     ·1500℃下 La_20_(3-x)Si0_2 的介电性能研究第59-61页
   ·本章小结第61-63页
第六章 导电银浆在多层片式电感中的应用第63-72页
   ·多层片式电感芯片的制备工艺第63-64页
     ·制浆第63页
     ·流延下盖第63页
     ·印刷/叠层第63页
     ·流延上盖第63页
     ·烘干、切割第63-64页
     ·排胶第64页
     ·烧结第64页
     ·倒角第64页
   ·多层片式电感的端电极结构第64页
   ·导电银端浆在多层片式电感中的应用第64-71页
     ·涂银第65-66页
     ·烘银第66页
     ·烧银第66-67页
     ·电镀第67-68页
     ·性能测试第68-71页
   ·本章小结第71-72页
结论第72-74页
参考文献第74-82页
攻读硕士学位期间取得的研究成果第82-83页
致谢第83-84页
附件第84页

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