摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
第1章 绪论 | 第8-15页 |
1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
1.2 残余奥氏体测量方法简介 | 第9-11页 |
1.2.1 X射线衍射法 | 第9-10页 |
1.2.2 Rietveld法 | 第10-11页 |
1.2.3 EBSD法 | 第11页 |
1.3 磁测法测量残余奥氏体研究现状 | 第11-14页 |
1.4 主要研究内容 | 第14-15页 |
第2章 磁测法基础理论 | 第15-28页 |
2.1 物质的磁性 | 第15-17页 |
2.1.1 物质磁性概述 | 第15-16页 |
2.1.2 物质磁性分类 | 第16-17页 |
2.2 铁磁材料磁性分析 | 第17-22页 |
2.2.1 铁磁材料技术磁化分析 | 第17-19页 |
2.2.2 铁磁材料磁滞回线分析 | 第19-20页 |
2.2.3 铁磁材料交流磁化 | 第20-22页 |
2.3 磁测法测量残余奥氏体原理 | 第22-27页 |
2.3.1 奥氏体和马氏体磁性分析 | 第22-23页 |
2.3.2 磁测法测量残余奥氏体原理 | 第23-27页 |
2.4 本章小结 | 第27-28页 |
第3章 磁传感器电磁场有限元分析 | 第28-54页 |
3.1 电磁场有限元分析基本原理 | 第28-31页 |
3.1.1 电磁场有限元分析理论基础 | 第28-29页 |
3.1.2 电磁场有限元分析软件ANSYS Maxwell | 第29-31页 |
3.2 磁传感器结构设计及电磁场有限元分析 | 第31-35页 |
3.2.1 磁传感器结构设计 | 第31-32页 |
3.2.2 磁传感器电磁场有限元分析 | 第32-35页 |
3.3 结构参数对磁传感器输出信号影响规律 | 第35-47页 |
3.3.1 磁传感器磁芯材料影响分析 | 第35-37页 |
3.3.2 磁传感器尺寸大小影响分析 | 第37-40页 |
3.3.3 磁传感器线圈参数影响分析 | 第40-42页 |
3.3.4 磁传感器线圈匝数影响分析 | 第42-45页 |
3.3.5 磁传感器空气气隙影响分析 | 第45-47页 |
3.4 激励信号对磁传感器输出信号影响规律 | 第47-50页 |
3.4.1 磁传感器激励强度影响分析 | 第47-48页 |
3.4.2 磁传感器激励频率影响分析 | 第48-50页 |
3.5 磁传感器三维仿真及制作 | 第50-53页 |
3.5.1 磁传感器三维仿真分析 | 第50-52页 |
3.5.2 磁传感器实物制作 | 第52-53页 |
3.6 本章小结 | 第53-54页 |
第4章 残余奥氏体含量测量系统设计与制作 | 第54-66页 |
4.1 测量系统硬件电路设计 | 第54-62页 |
4.1.1 励磁系统 | 第54-58页 |
4.1.2 信号调理系统 | 第58-59页 |
4.1.3 信号移相系统 | 第59-60页 |
4.1.4 试样退磁系统 | 第60-62页 |
4.1.5 实际硬件电路系统 | 第62页 |
4.2 测量系统软件设计 | 第62-65页 |
4.2.1 微控制系统 | 第62-64页 |
4.2.2 测量系统软件设计 | 第64-65页 |
4.3 本章小结 | 第65-66页 |
第5章 试样材料残余奥氏体含量测量实验 | 第66-80页 |
5.1 材料交流有效值磁导率模型建立 | 第66-68页 |
5.2 Q235钢残余奥氏体含量测量实验 | 第68-78页 |
5.2.1 温度对磁传感器输出信号的影响 | 第68-70页 |
5.2.2 残余磁化对系统输出信号的影响 | 第70-71页 |
5.2.3 实验标准数据测量 | 第71-73页 |
5.2.4 Q235试样测量实验 | 第73-76页 |
5.2.5 实验测量结果分析 | 第76-78页 |
5.3 本章小结 | 第78-80页 |
第6章 总结与展望 | 第80-82页 |
6.1 总结 | 第80-81页 |
6.2 展望 | 第81-82页 |
致谢 | 第82-83页 |
参考文献 | 第83-87页 |
附录 | 第87-89页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第89页 |