混沌密钥序列发生器性能分析及其应用
中文摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第11-13页 |
1.3 论文主要研究内容与结构安排 | 第13-16页 |
第2章 混沌理论的基本知识 | 第16-36页 |
2.1 混沌的基本理论 | 第16-18页 |
2.1.1 混沌的发展史 | 第16-17页 |
2.1.2 混沌的概念 | 第17-18页 |
2.1.3 典型的混沌系统 | 第18页 |
2.2 混沌特性 | 第18-30页 |
2.2.1 遍历性 | 第19-20页 |
2.2.2 初值敏感性 | 第20-21页 |
2.2.3 相空间特性 | 第21-23页 |
2.2.4 分岔特性 | 第23-25页 |
2.2.5 Lyapunov指数 | 第25-27页 |
2.2.6 Feigenbaum常数 | 第27-30页 |
2.3 改进的Henon混沌映射系统的提出 | 第30-34页 |
2.3.1 改进的Henon混沌系统 | 第30-31页 |
2.3.2 混沌特性分析 | 第31-34页 |
2.4 本章小结 | 第34-36页 |
第3章 混沌密钥序列发生器的设计 | 第36-70页 |
3.1 DSP Builder模型构建 | 第36-45页 |
3.1.1 DSP Builder工具简介 | 第36-37页 |
3.1.2 DSP Builder设计流程 | 第37页 |
3.1.3 混沌密钥序列发生器的构建 | 第37-42页 |
3.1.4 仿真验证 | 第42-44页 |
3.1.5 电路封装 | 第44-45页 |
3.2 序列发生器的混沌特性分析 | 第45-51页 |
3.2.1 序列发生器的遍历性 | 第45-46页 |
3.2.2 序列发生器的初值敏感性 | 第46-47页 |
3.2.3 序列发生器的相空间特性 | 第47-48页 |
3.2.4 序列发生器的分岔特性 | 第48-51页 |
3.3 序列发生器的统计特性分析 | 第51-58页 |
3.3.1 频数测试 | 第51-53页 |
3.3.2 游程测试 | 第53-54页 |
3.3.3 序列测试 | 第54-56页 |
3.3.4 自相关测试 | 第56-58页 |
3.4 一种新的密钥序列发生器的设计 | 第58-64页 |
3.4.1 电路设计 | 第59-60页 |
3.4.2 性能分析 | 第60-64页 |
3.5 改进的Henon系统序列发生器的设计 | 第64-69页 |
3.5.1 电路设计 | 第64页 |
3.5.2 性能分析 | 第64-69页 |
3.6 本章小结 | 第69-70页 |
第4章 基于FPGA的混沌加密系统的实现 | 第70-101页 |
4.1 加密系统的总体设计 | 第70-71页 |
4.2 系统的硬件设计 | 第71-77页 |
4.2.1 电源电路 | 第72-73页 |
4.2.2 时钟及复位电路 | 第73页 |
4.2.3 串.通信电路 | 第73-74页 |
4.2.4 下载电路 | 第74-75页 |
4.2.5 键盘电路 | 第75-76页 |
4.2.6 液晶显示电路 | 第76-77页 |
4.3 系统的软件设计 | 第77-97页 |
4.3.1 波特率发生器模块 | 第79-80页 |
4.3.2 主控制器模块 | 第80-81页 |
4.3.3 输入模块 | 第81-85页 |
4.3.4 显示屏模块 | 第85-88页 |
4.3.5 混沌模块 | 第88-90页 |
4.3.6 加密模块 | 第90页 |
4.3.7 串行发送模块 | 第90-92页 |
4.3.8 串行接收模块 | 第92-97页 |
4.4 加密系统测试 | 第97-100页 |
4.4.1 测试方法 | 第97-99页 |
4.4.2 测试结果 | 第99-100页 |
4.5 本章小结 | 第100-101页 |
结论 | 第101-103页 |
参考文献 | 第103-109页 |
致谢 | 第109-110页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第110-111页 |
攻读学位期间参加的科研项目 | 第111页 |
攻读学位期间取得的科研成果 | 第111页 |