| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-16页 |
| 1.3 研究内容与创新点 | 第16-17页 |
| 1.4 后续章节安排 | 第17-19页 |
| 第2章 旁路分析相关技术 | 第19-27页 |
| 2.1 计时攻击 | 第19-21页 |
| 2.1.1 计时攻击原理 | 第19-20页 |
| 2.1.2 计时攻击方法 | 第20-21页 |
| 2.2 功耗/电磁分析 | 第21-22页 |
| 2.2.1 功耗/电磁分析理论基础 | 第21页 |
| 2.2.2 功耗/电磁分析方法 | 第21-22页 |
| 2.3 Cache攻击 | 第22-24页 |
| 2.3.1 Cache攻击原理 | 第22-23页 |
| 2.3.2 Cache攻击方法 | 第23-24页 |
| 2.4 故障注入攻击 | 第24-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-27页 |
| 第3章 密码学设备能量消耗 | 第27-33页 |
| 3.1 密码设备的类型 | 第27-28页 |
| 3.2 CMOS集成电路的能量消耗 | 第28-31页 |
| 3.2.1 CMOS晶体管 | 第28-29页 |
| 3.2.2 CMOS集成电路消耗 | 第29-30页 |
| 3.2.3 汉明距离模型和汉明重量模型 | 第30-31页 |
| 3.2.4 能量迹的统计特征 | 第31页 |
| 3.3 本章小结 | 第31-33页 |
| 第4章 基于能量迹预处理的AES相关功耗分析 | 第33-49页 |
| 4.1 Advanced Encryption Standard(AES) | 第33-37页 |
| 4.1.1 AES的由来 | 第33页 |
| 4.1.2 AES算法的具体描述 | 第33-36页 |
| 4.1.3 AES算法的安全性 | 第36-37页 |
| 4.2 相关功耗分析 | 第37-40页 |
| 4.2.1 相关功耗分析的一般步骤 | 第37-38页 |
| 4.2.2 皮尔森相关系数 | 第38-40页 |
| 4.3 能量迹预处理 | 第40-48页 |
| 4.3.1 基于差分的特征点提取 | 第40-42页 |
| 4.3.2 基于DFT时移特性的能量迹对齐 | 第42-46页 |
| 4.3.3 基于小波分析的信噪分离技术 | 第46-48页 |
| 4.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第5章 实验及实验结果分析 | 第49-67页 |
| 5.1 实验设备 | 第49-54页 |
| 5.1.1 目标实验板CW-303 | 第49-50页 |
| 5.1.2 控制实验板CW-1173 | 第50-52页 |
| 5.1.3 软件平台Chip Whispherer | 第52-53页 |
| 5.1.4 Sasebo-W智能卡实验板 | 第53-54页 |
| 5.2 实验步骤 | 第54-61页 |
| 5.2.1 实验准备 | 第54-56页 |
| 5.2.2 具体实施步骤 | 第56-61页 |
| 5.3 实验结果分析 | 第61-65页 |
| 5.3.1 能量迹预处理方案结果 | 第61-63页 |
| 5.3.2 相关功耗分析实验结果 | 第63-65页 |
| 5.4 本章小结 | 第65-67页 |
| 第6章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 6.1 总结 | 第67页 |
| 6.2 展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第75页 |