| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| ·纳米材料的研究进展 | 第9页 |
| ·ZnO纳米材料的研究现状 | 第9-12页 |
| ·核壳纳米结构研究进展 | 第12-13页 |
| ·探测器的研究进展 | 第13-14页 |
| ·本文研究工作及意义 | 第14-16页 |
| 第二章 实验过程及检测设备 | 第16-24页 |
| ·样品制备所用装置及药品 | 第16-17页 |
| ·实验的基本流程及机理 | 第17-19页 |
| ·ZnO纳米线阵列生长机理 | 第18页 |
| ·ZnO/ZnS核壳纳米线生长机理 | 第18-19页 |
| ·样品制备流程 | 第19-21页 |
| ·制备种晶 | 第19页 |
| ·制备ZnO纳米线阵列 | 第19-20页 |
| ·ZnO/ZnS核壳纳米线阵列的制备 | 第20页 |
| ·ZnO/ZnS核壳纳米线阵列及光探测器的制备 | 第20-21页 |
| ·合成材料表征及性能研究 | 第21-24页 |
| ·扫描电镜(SEM) | 第21页 |
| ·X射线衍射仪(XRD) | 第21-22页 |
| ·透射电镜(TEM) | 第22页 |
| ·荧光光谱仪 | 第22页 |
| ·光电性能测试 | 第22-24页 |
| 第三章 ZnO纳米线阵列的制备、表征和光学性质研究 | 第24-48页 |
| ·在ITO玻璃衬底上制备ZnO纳米线阵列 | 第24-38页 |
| ·种晶制备参数对ZnO纳米线阵列形貌的影响 | 第25-30页 |
| ·水热生长参数对ZnO纳米线阵列形貌的影响 | 第30-35页 |
| ·ZnO纳米线阵列的XRD及TEM表征 | 第35-37页 |
| ·ZnO纳米线阵列光学 | 第37-38页 |
| ·其它衬底上生长ZnO纳米线阵列 | 第38-44页 |
| ·PET衬底 | 第38-41页 |
| ·Kapton薄膜 | 第41-42页 |
| ·GaN膜 | 第42-44页 |
| ·AZO玻璃衬底 | 第44页 |
| ·Al掺杂ZnO纳米线阵列的合成及表征 | 第44-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 ZnO/ZnS核壳纳米线阵列的合成、表征及光电探测性能研究 | 第48-62页 |
| ·ZnO/ZnS核壳纳米线阵列的合成 | 第48-50页 |
| ·ZnO/ZnS核壳纳米线阵列的影响因素 | 第50-58页 |
| ·反应温度的影响 | 第50-53页 |
| ·Na2S浓度的影响 | 第53-56页 |
| ·硫化时间的影响 | 第56-58页 |
| ·ZnO/ZnS核壳纳米线阵列基光探测器研究 | 第58-60页 |
| ·光电探测器的构造 | 第58-59页 |
| ·光电探测器的性能 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-62页 |
| 第五章 结论 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |