线阵CCD亚像元超分辨率重建方法研究
| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-18页 |
| ·课题研究背景与意义 | 第10-13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-16页 |
| ·国外研究现状 | 第13-15页 |
| ·国内研究现状 | 第15-16页 |
| ·应用前景 | 第16页 |
| ·论文研究内容和结构安排 | 第16-18页 |
| 第二章 线阵CCD亚像元成像技术 | 第18-46页 |
| ·遥感图像成像模型 | 第18-20页 |
| ·采样定理 | 第20-24页 |
| ·分辨率的影响因素 | 第24-27页 |
| ·光学系统分辨率 | 第25页 |
| ·探测器分辨率 | 第25-26页 |
| ·其他因素 | 第26-27页 |
| ·提高分辨率的方法 | 第27-30页 |
| ·纯硬件方法 | 第27-29页 |
| ·纯软件方法 | 第29页 |
| ·软硬结合的方法 | 第29-30页 |
| ·线阵CCD亚像元采样模式 | 第30-41页 |
| ·超模式采样 | 第30-33页 |
| ·高模式采样 | 第33-35页 |
| ·推扫减速采样模式 | 第35-36页 |
| ·斜模式采样 | 第36-40页 |
| ·其它亚像元采样模式 | 第40-41页 |
| ·不同采样模式分析 | 第41-43页 |
| ·实现亚像元错位的技术途径 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第三章 亚像元超分辨率重建方法研究 | 第46-60页 |
| ·超分辨率重建算法概述 | 第46页 |
| ·亚像元重建基本原理 | 第46-47页 |
| ·传统的亚像元重建方法 | 第47-53页 |
| ·最近邻插值 | 第48页 |
| ·双线性插值 | 第48-50页 |
| ·三次B样条曲线插值 | 第50-52页 |
| ·三次B样条曲面插值 | 第52-53页 |
| ·本文方法 | 第53-58页 |
| ·全插值法 | 第53-54页 |
| ·全插值法结合双线性插值 | 第54-55页 |
| ·全插值法结合B样条插值 | 第55-56页 |
| ·边缘自适应的全插值法 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 第四章 实验结果与分析 | 第60-76页 |
| ·图像质量评价概述 | 第60-61页 |
| ·亚像元图像质量评价参数 | 第61-64页 |
| ·亚像元成像方法评价与分析 | 第64-75页 |
| ·二值图像 | 第64-67页 |
| ·细节图像 | 第67-71页 |
| ·遥感图像 | 第71-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 总结与展望 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 作者在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第82页 |
