基于配置数最小化的FPGA存储模块内建自测试技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| ·研究背景及意义 | 第13-16页 |
| ·现场可编程阵列逻辑（FPGA） | 第13-14页 |
| ·FPGA 中的内嵌存储模块 | 第14-15页 |
| ·存储模块测试研究的必要性 | 第15-16页 |
| ·国内外研究现状 | 第16-19页 |
| ·FPGA 测试研究的侧重点 | 第16-17页 |
| ·FPGA 的内建自测试 | 第17-18页 |
| ·FPGA 中存储模块的测试现状 | 第18-19页 |
| ·论文内容及章节安排 | 第19-21页 |
| 第二章 存储器测试的相关理论 | 第21-31页 |
| ·存储器简介 | 第21-22页 |
| ·存储器发展概述 | 第21页 |
| ·静态存储器的结构 | 第21-22页 |
| ·静态存储器故障概述 | 第22-26页 |
| ·静态存储器的故障模型 | 第23-26页 |
| ·存储器测试算法概述 | 第26-28页 |
| ·March 算法的操作细节 | 第26页 |
| ·典型的 March 算法 | 第26-28页 |
| ·存储器测试算法实现方式 | 第28-29页 |
| ·存储器直接存取测试 | 第28-29页 |
| ·片上微处理器测试 | 第29页 |
| ·存储器内建自测试 | 第29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 第三章 存储模块测试配置的最优化研究 | 第31-51页 |
| ·基本型存储模块的测试配置 | 第31-42页 |
| ·M4K 存储模块支持的配置 | 第31-32页 |
| ·M4K 存储模块测试配置选择 | 第32-38页 |
| ·M4K 存储模块测试算法选择 | 第38-40页 |
| ·M4K 存储模块的测试配置及算法小结 | 第40-41页 |
| ·测试配置及算法推广 | 第41-42页 |
| ·增强型存储模块的测试配置 | 第42-49页 |
| ·存储逻辑的测试 | 第42页 |
| ·专用辅助硬件逻辑的测试 | 第42-46页 |
| ·测试方案的推广 | 第46-47页 |
| ·测试方案的比较 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 存储模块 BIST 的实现 | 第51-62页 |
| ·BIST 架构的设计 | 第51-56页 |
| ·BIST 架构的整体设计 | 第51-52页 |
| ·TPG 电路的设计 | 第52-55页 |
| ·ORA 模块的设计 | 第55-56页 |
| ·BIST 架构设计的推广 | 第56-60页 |
| ·March LR 算法的实现及验证 | 第56-59页 |
| ·March s2pf 算法的实现 | 第59-60页 |
| ·March d2pf 算法的实现 | 第60页 |
| ·存储模块的协同测试 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 总结及展望 | 第62-63页 |
| ·总结 | 第62页 |
| ·展望 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第66-67页 |
