| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-22页 |
| ·半导体材料特性与应用 | 第9-12页 |
| ·半导体材料的相关特性 | 第9-11页 |
| ·半导体材料分类与应用 | 第11-12页 |
| ·霍尔元件材料 | 第12页 |
| ·电场强度测量方法 | 第12-19页 |
| ·电学式测量方法 | 第13-17页 |
| ·光学式测量方法 | 第17-19页 |
| ·本课题研究内容和意义 | 第19-20页 |
| ·本文研究内容 | 第19-20页 |
| ·本课题研究意义 | 第20页 |
| ·本章小结 | 第20-22页 |
| 第二章 霍尔效应与霍尔元件概述 | 第22-34页 |
| ·霍尔效应理论 | 第22-25页 |
| ·金属霍尔效应 | 第22-24页 |
| ·半导体材料霍尔效应 | 第24-25页 |
| ·霍尔元件与发展 | 第25-27页 |
| ·霍尔元件的发展 | 第25-27页 |
| ·霍尔元件形状与分类 | 第27页 |
| ·霍尔元件结构与特性 | 第27-30页 |
| ·霍尔元件结构 | 第27-29页 |
| ·霍尔元件特点 | 第29页 |
| ·霍尔元件主要特征参数 | 第29-30页 |
| ·霍尔元件应用 | 第30-33页 |
| ·直接应用 | 第31-32页 |
| ·间接应用 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 霍尔元件测量系统设计与制作 | 第34-41页 |
| ·测量系统电路设计 | 第34-38页 |
| ·实验中应用的部分仪器介绍 | 第38-40页 |
| ·数字高斯计介绍 | 第38-39页 |
| ·数字特斯拉计介绍 | 第39页 |
| ·电源介绍 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 处于负气压中霍尔元件测量特性实验研究 | 第41-48页 |
| ·不同气压下霍尔元件不等位电势实验研究 | 第41-43页 |
| ·真空箱设计 | 第41-42页 |
| ·霍尔元件处于不同负气压下不等位电势研究 | 第42-43页 |
| ·外磁场下负气压变化中霍尔元件测量特性实验研究 | 第43-46页 |
| ·霍尔元件磁场测量分析 | 第43-44页 |
| ·负气压变化下霍尔元件测量特性研究 | 第44-46页 |
| ·综合分析 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 霍尔元件在机械压力作用下测量特性的实验研究 | 第48-53页 |
| ·霍尔元件在机械压力作用下不等位电势实验研究 | 第48-49页 |
| ·压力系统的建立 | 第48-49页 |
| ·霍尔元件在机械压力作用下不等位电势研究 | 第49页 |
| ·霍尔元件在机械压力作用下测量特性实验研究 | 第49-50页 |
| ·综合分析 | 第50-52页 |
| ·本章总结 | 第52-53页 |
| 第六章 电场下霍尔元件测量特性的研究 | 第53-61页 |
| ·实验系统装置 | 第53-54页 |
| ·均匀电场发生系统设计 | 第53页 |
| ·实验系统的搭建 | 第53-54页 |
| ·在电场下霍尔元件相关特性实验研究 | 第54-58页 |
| ·电力线垂直霍尔元件平面的测量研究 | 第54-56页 |
| ·电场线平行于霍尔元件平面时的测量研究 | 第56-58页 |
| ·结果分析 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 总结与展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-68页 |
| 攻读硕士期间取得的成果 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |