| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-23页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第13-15页 |
| ·相关技术研究现状 | 第15-18页 |
| ·原子发射光谱仪发展现状 | 第15-16页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪发展现状 | 第16-18页 |
| ·宽波段中阶梯光栅光谱仪的关键技术及难点 | 第18页 |
| ·论文的主要研究内容及结构安排 | 第18-23页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第18-19页 |
| ·论文的结构安排 | 第19-23页 |
| 第2章 中阶梯光栅光谱仪相关理论 | 第23-43页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪原理及特点 | 第23-32页 |
| ·传统平面光栅光谱仪的结构与特点 | 第23-26页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪结构与特点 | 第26-28页 |
| ·主色散元件原理及特性 | 第28-31页 |
| ·横向色散元件特性 | 第31页 |
| ·交叉色散特性 | 第31-32页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪设计的像差理论 | 第32-34页 |
| ·主色散方向像差 | 第32-34页 |
| ·垂直色散方向像差 | 第34页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪光谱带宽影响因素分析 | 第34-40页 |
| ·主色散元件对光谱带宽的影响 | 第34-35页 |
| ·横向色散元件对光谱带宽的影响 | 第35-36页 |
| ·视场光阑对光谱带宽的影响 | 第36-37页 |
| ·像差对光谱带宽的影响 | 第37-38页 |
| ·探测器对光谱带宽的影响 | 第38-39页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪光谱分辨率的判别 | 第39-40页 |
| ·ICP-AES 测试原理与性能需求 | 第40-42页 |
| ·ICP-AES 系统组成及原理 | 第40-41页 |
| ·ICP-AES 性能需求 | 第41-42页 |
| ·小结 | 第42-43页 |
| 第3章 中阶梯光栅光谱仪数学模型建立与宽波段的设计方法 | 第43-75页 |
| ·光学系统数学模型的建立与分析 | 第43-53页 |
| ·基于边界限制的中阶梯光栅光谱光谱仪数学模型建立 | 第44-45页 |
| ·主色散元件性能参数确定 | 第45-47页 |
| ·横向色散元件的性能参数分析 | 第47-50页 |
| ·二维谱图 Y 方向边界限制 | 第50-52页 |
| ·二维谱图 X 方向边界限制 | 第52-53页 |
| ·宽波段中阶梯光栅光谱仪的设计方法 | 第53-65页 |
| ·复合棱镜型宽波段中阶梯光栅光谱仪设计 | 第53-62页 |
| ·分段测量型宽波段中阶梯光栅光谱仪设计 | 第62-65页 |
| ·系统关键元件性能分析 | 第65-70页 |
| ·中阶梯光栅工作状态性能分析 | 第65-68页 |
| ·探测系统性能参数分析 | 第68-70页 |
| ·宽波段中阶梯光栅光谱仪结构参数计算结果 | 第70-73页 |
| ·复合棱镜型宽波段中阶梯光栅光谱仪参数计算结果 | 第71-72页 |
| ·分段测量型宽波段中阶梯光栅光谱仪参数计算结果 | 第72-73页 |
| ·小结 | 第73-75页 |
| 第4章 宽波段中阶梯光栅光谱仪光学系统设计 | 第75-103页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪模型分析 | 第75-83页 |
| ·切尼尔-特纳(Czerny-Turner)系统 | 第75-80页 |
| ·利特洛(Littrow)系统 | 第80-81页 |
| ·Czerny-Turner 系统与 Littrow 系统的结合 | 第81-83页 |
| ·光学系统像差分析与校正 | 第83-93页 |
| ·球差对系统的影响与校正 | 第86-87页 |
| ·彗差对系统的影响与校正 | 第87-91页 |
| ·像散和场曲对系统的影响与校正 | 第91-93页 |
| ·光学设计结果 | 第93-102页 |
| ·复合棱镜型中阶梯光栅光谱仪设计结果 | 第93-98页 |
| ·分段测量型中阶梯光栅光谱仪设计结果 | 第98-102页 |
| ·小结 | 第102-103页 |
| 第5章 中阶梯光栅光谱仪波长精确标定 | 第103-119页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪二维谱图还原 | 第103-111页 |
| ·主色散坐标与衍射级次的关系阵列建立 | 第104-107页 |
| ·横向色散坐标与衍射级次的关系阵列建立 | 第107页 |
| ·含有像面滚转因子的二维谱图模型建立 | 第107-110页 |
| ·一维谱图信息还原 | 第110-111页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪波长精确标定 | 第111-116页 |
| ·特征谱线的选取条件 | 第112页 |
| ·基于衍射级次的质心提取算法分析 | 第112-115页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪精确标定 | 第115-116页 |
| ·系统波长漂移与校正 | 第116-117页 |
| ·波长漂移的条件 | 第116页 |
| ·波长校正的条件 | 第116-117页 |
| ·小结 | 第117-119页 |
| 第6章 中阶梯光栅光谱仪精确装调及系统软件设计 | 第119-131页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪精确装调方法研究 | 第119-126页 |
| ·系统结构参数的灵敏度分析 | 第119-121页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪精确装调 | 第121-126页 |
| ·中阶梯光栅光谱仪系统软件设计 | 第126-130页 |
| ·软件设计的主要目的及功能 | 第126-127页 |
| ·软件设计流程 | 第127页 |
| ·软件的参数设置与操作 | 第127-130页 |
| ·小结 | 第130-131页 |
| 第7章 ICP-AES 原理样机的研制与微量元素判别 | 第131-137页 |
| ·ICP-AES 系统测试 | 第131-133页 |
| ·微量元素光谱测试结果分析 | 第133-137页 |
| ·光谱测试条件 | 第133页 |
| ·光谱数据采集与微量元素判别 | 第133-137页 |
| 第8章 总结与展望 | 第137-141页 |
| ·论文工作总结 | 第137-138页 |
| ·本文创新点 | 第138-139页 |
| ·展望 | 第139-141页 |
| 参考文献 | 第141-149页 |
| 在学期间学术成果情况 | 第149-151页 |
| 指导教师及作者简介 | 第151-153页 |
| 致谢 | 第153页 |
