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多元过程监控与异常诊断研究

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-8页
第一章 绪论第8-18页
   ·研究背景与意义第8-10页
     ·研究背景第8-9页
     ·研究意义第9-10页
   ·国内外研究现状综述第10-16页
     ·多元控制图研究综述第10-13页
     ·质量诊断研究综述第13-16页
   ·论文的结构与研究内容第16页
   ·本研究的创新之处第16-18页
第二章 多元统计过程控制与异常诊断理论第18-31页
   ·多元质量控制技术概述第18-19页
   ·多元统计过程控制图第19-25页
     ·多元休哈特控制图第19-22页
     ·多元 CUSUM 控制图第22-24页
     ·多元 EWMA 控制图第24-25页
   ·多元过程异常诊断第25-30页
     ·基于 BP 神经网络的方法第25-29页
     ·基于支持向量机的方法第29-30页
   ·本章小结第30-31页
第三章 多元过程均值向量与协方差监控第31-47页
   ·基于 WISHART 分布的控制图第31-32页
     ·Wishart 分布第31-32页
     ·基于 Wishart 分布的控制图第32页
   ·联合控制图第32-35页
     ·联合 T2与|S|控制图第32-33页
     ·Max-MEWMA 控制图第33-35页
   ·控制图性能分析第35-43页
     ·CSDW 控制图性能第35-37页
     ·控制图性能比较第37-43页
   ·CSDW 控制具体实施过程及案例第43-44页
   ·案例分析第44-46页
   ·本章小结第46-47页
第四章 基于联合技术的二元过程监控与诊断第47-67页
   ·联合 T~2与 VMAX 控制图第47-49页
   ·联合控制图性能比较第49-52页
   ·实例分析第52-54页
   ·二元过程均值向量异常诊断第54-57页
     ·过程诊断异常简介第54页
     ·联合 NCS 控制图第54-56页
     ·基于 NCS 的异常诊断流程第56-57页
   ·联合 X 均值控制图第57-62页
   ·仿真分析第62-66页
   ·本章小结第66-67页
第五章 基于 SVM 算法的多元控制图均值偏移诊断第67-83页
   ·多元控制图诊断概述第67-68页
   ·多元过程控制图第68-69页
   ·分类及优化算法第69-72页
     ·支持向量机原理第69-70页
     ·K 折交叉验证第70-71页
     ·粒子群优化算法第71-72页
   ·模型构建与训练集产生第72-74页
     ·模型构建第72-73页
     ·训练数据集产生第73-74页
   ·模型模拟分析第74-82页
     ·基于 K-CV 优化第74-75页
     ·基于 PSO 模型参数优化第75-77页
     ·模型的性能比较第77-82页
   ·本章小结第82-83页
第六章 级联相关神经网络在制造过程中的应用研究第83-91页
   ·神经网络的应用第83-85页
   ·神经网络算法第85-87页
     ·反向传播算法第85-86页
     ·级联相关算法第86-87页
   ·仿真分析第87-90页
     ·仿真案例第87-88页
     ·实证研究第88-90页
   ·本章小结第90-91页
第七章 结束语与展望第91-93页
   ·结束语第91-92页
   ·展望第92-93页
参考文献第93-101页
发表论文和参加科研情况说明第101-102页
致谢第102页

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