摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
致谢 | 第8-14页 |
第一章 绪论 | 第14-20页 |
·课题研究背景 | 第14页 |
·国内外研究现状 | 第14-17页 |
·表面缺陷检测并行处理的意义 | 第17-19页 |
·本文的组织安排 | 第19-20页 |
第二章 系统方案设计与GPU通用计算 | 第20-34页 |
·表面缺陷检测系统的选择与设计 | 第20-24页 |
·常见的表面缺陷检测系统组成 | 第20-23页 |
·表面缺陷检测系统方案设计 | 第23-24页 |
·图形处理器(GPU)通用计算概述 | 第24-26页 |
·统一计算设备架构CUDA概述 | 第26-33页 |
·TeslaGPU硬件架构 | 第27-29页 |
·CUDA架构的编程模型 | 第29-30页 |
·CUDA架构的存储器模型 | 第30-31页 |
·CUDA架构的执行模型 | 第31-32页 |
·CUDA优化策略 | 第32-33页 |
·小结 | 第33-34页 |
第三章 液晶面板表面缺陷检测算法研究 | 第34-60页 |
·总体方案设计 | 第34-35页 |
·缺陷的分类 | 第34页 |
·方案选择与设计 | 第34-35页 |
·CCD相机图像采集 | 第35-36页 |
·周期性背景液晶面板表面缺陷的提取与分析 | 第36-51页 |
·周期性背景分析与滤除 | 第36-43页 |
·周期性背景分析 | 第36-38页 |
·一维傅立叶变换 | 第38-39页 |
·周期性纹理背景滤除 | 第39-43页 |
·边界效应的消除 | 第43-45页 |
·提取目标缺陷 | 第45-51页 |
·图像数据的网络传输 | 第51-54页 |
·网络传输上位机服务器端编程与分析 | 第51-53页 |
·网络传输下位机客户端编程与分析 | 第53-54页 |
·缺陷的连通域提取 | 第54-56页 |
·基于霍特林变换的缺陷标记 | 第56-59页 |
·小结 | 第59-60页 |
第四章 基于GPU/CUDA加速的相关算法并行研究 | 第60-71页 |
·基于GPU/CUDA的傅立叶变换实现 | 第60-62页 |
·基于GPU/CUDA的一维小波变换并行实现 | 第62-65页 |
·基于GPU/CUDA的连通域运算并行实现 | 第65-67页 |
·基于GPU/CUDA与霍特林变换运算并行实现 | 第67-70页 |
·小结 | 第70-71页 |
第五章 实验结果与分析 | 第71-82页 |
·实验系统简介 | 第71页 |
·规律性背景TFT-LCD缺陷检测结果与分析 | 第71-77页 |
·无规律背景背光源缺陷检测结果与分析 | 第77-79页 |
·GPU并行计算加速效果与分析 | 第79-80页 |
·缺陷标记分析 | 第80-82页 |
第六章 总结与展望 | 第82-83页 |
·总结 | 第82页 |
·展望 | 第82-83页 |
参考文献 | 第83-87页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第87-88页 |