摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
目录 | 第6-9页 |
图表索引 | 第9-11页 |
第一章 引言 | 第11-14页 |
·课题背景 | 第11-12页 |
·论文的研究意义 | 第12页 |
·论文的研究内容 | 第12-14页 |
第二章 RT不稳定性增长的线性理论 | 第14-18页 |
·Rayleigh-Taylor流体力学不稳定性 | 第14页 |
·RT不稳定性的线性近似理论 | 第14-18页 |
·密度间断界面上的RT不稳定性增长率 | 第15-16页 |
·密度连续渐变界面上的RT不稳定性增长率 | 第16-17页 |
·烧蚀界面上的RT不稳定性增长率 | 第17-18页 |
第三章 实验原理 | 第18-21页 |
·实验方案 | 第18-19页 |
·实验原理 | 第19-21页 |
第四章 实验的物理过程 | 第21-29页 |
·背光源时空分布均匀性 | 第21-22页 |
·背光源的非单色性 | 第22-23页 |
·XSC的像场畸变 | 第23-24页 |
·实验系统的PSF | 第24-25页 |
·PSF标定方案及原理 | 第25页 |
·噪声的来源与统计性质 | 第25-29页 |
·噪声的来源 | 第25-26页 |
·噪声的传递与对实验结果的影响 | 第26-27页 |
·记录面上的噪声特性 | 第27-29页 |
第五章 数据分析技术:噪声过滤 | 第29-41页 |
·噪声的统计模型 | 第30-31页 |
·关于噪声的假设 | 第30-31页 |
·噪声的传统模型 | 第31页 |
·更具一般性的噪声模型 | 第31页 |
·噪声过滤的非统计方法 | 第31-32页 |
·噪声过滤的统计方法:传统技术 | 第32-35页 |
·Wiener滤波 | 第32页 |
·最大熵法 | 第32-33页 |
·Bayesian统计:Richardson-Lucy算法 | 第33-34页 |
·Bayesian统计:Pixon算法 | 第34页 |
·小结 | 第34-35页 |
·噪声过滤的统计方法:新思路 | 第35-41页 |
·多次测量单值估计(MMSE) | 第35-36页 |
·单次测量单值估计(SMSE) | 第36-37页 |
·如何将MMSE的优点应用于单次测量序列(SMs) | 第37-38页 |
·基于信号整体噪声统计的拟合优度泛函 | 第38-40页 |
·基于信号整体噪声统计的拟合不确定度估计 | 第40-41页 |
第六章 数据分析技术:增长因子的获取 | 第41-53页 |
·XSC像场畸变与传递模糊的修正 | 第41-42页 |
·像场畸变修正 | 第41页 |
·传递模糊修正 | 第41-42页 |
·背光源非均匀性影响的扣除 | 第42-45页 |
·高通滤波 | 第42-43页 |
·低阶多项式拟合 | 第43-44页 |
·非参数拟合 | 第44-45页 |
·小结 | 第45页 |
·样品厚度分布的计算 | 第45-46页 |
·非单色性背光 | 第45-46页 |
·单色背光 | 第46页 |
·各时刻调制模振幅的提取 | 第46-49页 |
·Fourier分析法 | 第46-48页 |
·多参数拟合法 | 第48-49页 |
·增长因子的计算 | 第49页 |
·不确定度分析 | 第49-53页 |
·不确定度传递过程一览 | 第49-50页 |
·直接观测量(D,ξ,τ)不确定度的主要来源 | 第50-51页 |
·不确定度的估计 | 第51-53页 |
第七章 数据分析算法与应用 | 第53-68页 |
·数据分析的算法 | 第53-60页 |
·噪声过滤 | 第53-54页 |
·传递模糊消除 | 第54-55页 |
·背光分布拟合 | 第55-56页 |
·调制模振幅拟合 | 第56-57页 |
·非线性最小二乘法 | 第57-60页 |
·实测数据分析 | 第60-68页 |
·原始数据D(ξ,τ) | 第60-61页 |
·噪声过滤 | 第61-63页 |
·背光拟合 | 第63-64页 |
·样品调制层厚度 | 第64-65页 |
·调制模振幅拟合 | 第65-68页 |
第八章 总结与展望 | 第68-70页 |
·总结 | 第68页 |
·展望 | 第68-70页 |
致谢 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-73页 |
附录 | 第73-77页 |
附录A:不确定度的正态分布 | 第73-75页 |
附录B:Richardson-Lucy迭代算法 | 第75-76页 |
附录C:KS检验的分布函数 | 第76-77页 |
附录D:攻读硕士期间的学术活动 | 第77页 |