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平面烧蚀RT不稳定性增长因子测量中的数据处理技术

摘要第1-5页
Abstract第5-6页
目录第6-9页
图表索引第9-11页
第一章 引言第11-14页
   ·课题背景第11-12页
   ·论文的研究意义第12页
   ·论文的研究内容第12-14页
第二章 RT不稳定性增长的线性理论第14-18页
   ·Rayleigh-Taylor流体力学不稳定性第14页
   ·RT不稳定性的线性近似理论第14-18页
     ·密度间断界面上的RT不稳定性增长率第15-16页
     ·密度连续渐变界面上的RT不稳定性增长率第16-17页
     ·烧蚀界面上的RT不稳定性增长率第17-18页
第三章 实验原理第18-21页
   ·实验方案第18-19页
   ·实验原理第19-21页
第四章 实验的物理过程第21-29页
   ·背光源时空分布均匀性第21-22页
   ·背光源的非单色性第22-23页
   ·XSC的像场畸变第23-24页
   ·实验系统的PSF第24-25页
     ·PSF标定方案及原理第25页
   ·噪声的来源与统计性质第25-29页
     ·噪声的来源第25-26页
     ·噪声的传递与对实验结果的影响第26-27页
     ·记录面上的噪声特性第27-29页
第五章 数据分析技术:噪声过滤第29-41页
   ·噪声的统计模型第30-31页
     ·关于噪声的假设第30-31页
     ·噪声的传统模型第31页
     ·更具一般性的噪声模型第31页
   ·噪声过滤的非统计方法第31-32页
   ·噪声过滤的统计方法:传统技术第32-35页
     ·Wiener滤波第32页
     ·最大熵法第32-33页
     ·Bayesian统计:Richardson-Lucy算法第33-34页
     ·Bayesian统计:Pixon算法第34页
     ·小结第34-35页
   ·噪声过滤的统计方法:新思路第35-41页
     ·多次测量单值估计(MMSE)第35-36页
     ·单次测量单值估计(SMSE)第36-37页
     ·如何将MMSE的优点应用于单次测量序列(SMs)第37-38页
     ·基于信号整体噪声统计的拟合优度泛函第38-40页
     ·基于信号整体噪声统计的拟合不确定度估计第40-41页
第六章 数据分析技术:增长因子的获取第41-53页
   ·XSC像场畸变与传递模糊的修正第41-42页
     ·像场畸变修正第41页
     ·传递模糊修正第41-42页
   ·背光源非均匀性影响的扣除第42-45页
     ·高通滤波第42-43页
     ·低阶多项式拟合第43-44页
     ·非参数拟合第44-45页
     ·小结第45页
   ·样品厚度分布的计算第45-46页
     ·非单色性背光第45-46页
     ·单色背光第46页
   ·各时刻调制模振幅的提取第46-49页
     ·Fourier分析法第46-48页
     ·多参数拟合法第48-49页
   ·增长因子的计算第49页
   ·不确定度分析第49-53页
     ·不确定度传递过程一览第49-50页
     ·直接观测量(D,ξ,τ)不确定度的主要来源第50-51页
     ·不确定度的估计第51-53页
第七章 数据分析算法与应用第53-68页
   ·数据分析的算法第53-60页
     ·噪声过滤第53-54页
     ·传递模糊消除第54-55页
     ·背光分布拟合第55-56页
     ·调制模振幅拟合第56-57页
     ·非线性最小二乘法第57-60页
   ·实测数据分析第60-68页
     ·原始数据D(ξ,τ)第60-61页
     ·噪声过滤第61-63页
     ·背光拟合第63-64页
     ·样品调制层厚度第64-65页
     ·调制模振幅拟合第65-68页
第八章 总结与展望第68-70页
   ·总结第68页
   ·展望第68-70页
致谢第70-71页
参考文献第71-73页
附录第73-77页
 附录A:不确定度的正态分布第73-75页
 附录B:Richardson-Lucy迭代算法第75-76页
 附录C:KS检验的分布函数第76-77页
 附录D:攻读硕士期间的学术活动第77页

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