LDPC码的理论研究与编码优化
| 中文摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 序 | 第8-11页 |
| 1 引言 | 第11-20页 |
| ·研究的背景和意义 | 第11-17页 |
| ·实际应用背景及其意义 | 第11-12页 |
| ·理论背景 | 第12-17页 |
| ·纠错编码领域的相关发展 | 第17-18页 |
| ·本文的研究重点和所作的工作 | 第18-20页 |
| 2 LDPC码的编译原理 | 第20-30页 |
| ·LDPC码的校验矩阵构造法 | 第20-22页 |
| ·LDPC码的主要编码算法 | 第22-24页 |
| ·基于高斯消去的直接编码 | 第22-23页 |
| ·基于近似下三角矩阵的有效编码 | 第23-24页 |
| ·LDPC码的译码 | 第24-27页 |
| ·影响LDPC码性能的重要因素—环 | 第27-30页 |
| 3 环数检验算法设计及其应用 | 第30-58页 |
| ·校验矩阵中环的形状分析 | 第30-36页 |
| ·校验矩阵中四环的形状 | 第31-32页 |
| ·校验矩阵中六环的形状 | 第32页 |
| ·校验矩阵中八环的形状 | 第32-34页 |
| ·校验矩阵中十环的形状 | 第34-36页 |
| ·基于逐点搜寻法的短环检验算法设计及其应用 | 第36-45页 |
| ·四环数检验算法设计 | 第36-37页 |
| ·六环数检验算法设计 | 第37页 |
| ·环数检验算法正确性证明 | 第37-38页 |
| ·短环检验算法在LDPC码设计中的应用 | 第38-42页 |
| ·实验结果与性能分析 | 第42-45页 |
| ·基于排列组合法的短环检验算法及其应用 | 第45-58页 |
| ·四环数检验算法设计 | 第46页 |
| ·六环数检验算法设计 | 第46-47页 |
| ·八环数检验算法设计 | 第47-49页 |
| ·十环数检验算法设计 | 第49-55页 |
| ·短环检验算法的应用 | 第55-58页 |
| 4 基于子矩阵移位法的大围数LDPC码设计 | 第58-69页 |
| ·校验矩阵设计算法 | 第58-61页 |
| ·子矩阵D的设计 | 第58-59页 |
| ·子矩阵E的设计 | 第59-60页 |
| ·子矩阵F的设计 | 第60-61页 |
| ·矩阵H_2的扩展算法 | 第61页 |
| ·校验矩阵围数为八的证明 | 第61-64页 |
| ·矩阵H_1中无短环(四环、六环)的证明 | 第61-64页 |
| ·校验矩阵H中无短环(四环、六环)的证明 | 第64页 |
| ·性能分析与比较 | 第64-69页 |
| ·最小码重的比较 | 第65-66页 |
| ·环数分布的比较 | 第66-67页 |
| ·BER性能仿真 | 第67-69页 |
| 5 结论与展望 | 第69-71页 |
| ·本文完成的工作 | 第69页 |
| ·展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 作者简历 | 第73-75页 |
| 学位论文数据集 | 第75页 |
