| 摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-6页 |
| 引言 | 第6-9页 |
| 第一章 原子核高自旋态研究 | 第9-22页 |
| ·高自旋态的布居和退激 | 第9-11页 |
| ·原子核模型介绍 | 第11-13页 |
| ·高自旋态研究的主要成就 | 第13-20页 |
| ·高自旋研究的设备更新及其前景 | 第20-22页 |
| 第二章 ~(178)Os核在束实验 | 第22-47页 |
| ·实验设备 | 第22-24页 |
| ·实验中的一些基本原理 | 第24-34页 |
| ·数据获取系统——kodaq系统 | 第34-35页 |
| ·~(178)Os核在束γ-γ符合实验数据离线处理 | 第35-43页 |
| ·~(178)Os核中的一些物理内容 | 第43-47页 |
| 第三章 ~(178)Os核激发态的寿命测量 | 第47-71页 |
| ·短核寿命的测量方法 | 第47-49页 |
| ·核反冲法测量核态寿命 | 第49-54页 |
| ·~(178)Os核激发态的寿命测量 | 第54-67页 |
| ·~(178)Os核激发态的寿命测量结果和讨论 | 第67-71页 |
| 结论 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 附录 | 第75-76页 |