| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-18页 |
| ·电介质材料的研究意义 | 第8页 |
| ·介电材料的研究背景及现状 | 第8-16页 |
| ·研究背景 | 第8-10页 |
| ·高介电系数材料的研究现状 | 第10页 |
| ·钽铌钛体系介电陶瓷的研究 | 第10-16页 |
| 1. 钽钛体系 | 第11-13页 |
| 2. 铌钽体系 | 第13-14页 |
| 3. 铌钽钛体系 | 第14-15页 |
| 4. 铌钛体系 | 第15-16页 |
| ·本论文的主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第2章 电介质物理基本理论和电子陶瓷工艺 | 第18-28页 |
| ·基本理论 | 第18-19页 |
| ·相对介电系数与介电损耗 | 第19-21页 |
| ·极化与极化机制 | 第21-24页 |
| ·介电驰豫 | 第24页 |
| ·电子陶瓷烧结工艺 | 第24-26页 |
| ·制备流程图 | 第24页 |
| ·预烧工艺 | 第24-25页 |
| ·烧结工艺 | 第25页 |
| ·烧结温度与保温时间 | 第25-26页 |
| ·实验分析方法 | 第26-28页 |
| ·介电性能的测试 | 第26页 |
| ·X射线衍射（XRD，X－Ray Diffraction） | 第26-27页 |
| ·扫描电镜（SEM）测试 | 第27-28页 |
| 第3章 (Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x体系陶瓷烧结工艺和介电性能的研究 | 第28-50页 |
| ·预烧和烧结温度范围的确定 | 第28-30页 |
| ·烧结条件的讨论 | 第30-33页 |
| ·烧结温度的变化对陶瓷的致密度、介电系数的影响 | 第30-32页 |
| ·烧结温度与保温时间的相互调节 | 第32-33页 |
| ·(Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x体系的制备工艺 | 第33页 |
| ·(Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x陶瓷的介电性能 | 第33-35页 |
| ·(Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x陶瓷的相结构 | 第35-37页 |
| ·(Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x陶瓷室温条件下介电性能随频率的变化 | 第37-40页 |
| ·(N6205)0.95(Ti02)0.05陶瓷的Argand图 | 第39-40页 |
| ·(Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x陶瓷的介电性能随温度的变化 | 第40-43页 |
| ·(Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x陶瓷的微观结构 | 第43-45页 |
| ·(Nb_2O_5)_(0.95)(TiO_2)_(0.05)系列陶瓷各向异性的研究 | 第45-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 第4章 (Nb_2O_5)_(1-x)(Ta_2O_5)_x陶瓷体系的介电性能研究 | 第50-57页 |
| ·(Nb_2O_5)_(1-x)(Ta_2O_5)_x体系的烧结工艺 | 第50页 |
| ·(Nb_2O_5)_(1-x)(Ta_2O_5)_x陶瓷的介电性能 | 第50-51页 |
| ·(Nb_2O_5)_(1-x)(Ta_2O_5)_x陶瓷室温下的变频图 | 第51-53页 |
| ·(Nb_2O_5)_(1-x)(Ta_2O_5)_x陶瓷的相结构 | 第53页 |
| ·(Nb_2O_5)_(1-x)(Ta_2O_5)_x陶瓷的微观结构 | 第53-55页 |
| ·(Nb_2O_5)_(0.92)(Ta_2O_5)_(0.08)陶瓷各项异性的研究 | 第55-56页 |
| ·小结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 攻读硕士学位期间申请的专利和发表的论文 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
