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单尺度方法用于电子器件噪声分析

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 绪论第7-11页
   ·半导体器件噪声分析的意义第7页
   ·噪声子波分析的国内外现状第7-8页
   ·本论文的工作内容第8-11页
第二章 电子器件噪声基础第11-17页
   ·半导体器件噪声的分类第11-13页
   ·半导体器件低频噪声的产生原因第13-15页
   ·子波分析及单尺度方法的提出第15-17页
第三章 信号多尺度与单尺度子波分析原理第17-27页
   ·多尺度子波变换第17-19页
   ·子波变换分析奇异性第19-22页
   ·Lipschitz 指数第22-23页
   ·单尺度分析原理第23-24页
   ·分数微积分第24-27页
第四章 单尺度子波分析第27-35页
   ·单尺度子波变换程序第27-29页
     ·单尺度子波变换算法第27页
     ·软件实现第27页
     ·实际效果第27-29页
   ·模极大值搜索第29-30页
     ·模极大值搜索原理第29页
     ·软件实现第29-30页
     ·实际效果第30页
   ·在单尺度情况下检测信号奇异性第30-33页
     ·单尺度计算奇异性的原理算法第30-31页
     ·软件实现第31-32页
     ·实际效果第32-33页
   ·信号频率与尺度的对应第33-35页
第五章 软件应用结果与分析第35-39页
   ·应用于随机电报(RTS)噪声第35-37页
   ·应用于 MOSFET 噪声分析第37-39页
第六章 结束语第39-41页
   ·论文成果第39页
   ·展望第39-41页
致谢第41-43页
参考文献第43-47页
在研期间主要研究成果第47页

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