单尺度方法用于电子器件噪声分析
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-11页 |
·半导体器件噪声分析的意义 | 第7页 |
·噪声子波分析的国内外现状 | 第7-8页 |
·本论文的工作内容 | 第8-11页 |
第二章 电子器件噪声基础 | 第11-17页 |
·半导体器件噪声的分类 | 第11-13页 |
·半导体器件低频噪声的产生原因 | 第13-15页 |
·子波分析及单尺度方法的提出 | 第15-17页 |
第三章 信号多尺度与单尺度子波分析原理 | 第17-27页 |
·多尺度子波变换 | 第17-19页 |
·子波变换分析奇异性 | 第19-22页 |
·Lipschitz 指数 | 第22-23页 |
·单尺度分析原理 | 第23-24页 |
·分数微积分 | 第24-27页 |
第四章 单尺度子波分析 | 第27-35页 |
·单尺度子波变换程序 | 第27-29页 |
·单尺度子波变换算法 | 第27页 |
·软件实现 | 第27页 |
·实际效果 | 第27-29页 |
·模极大值搜索 | 第29-30页 |
·模极大值搜索原理 | 第29页 |
·软件实现 | 第29-30页 |
·实际效果 | 第30页 |
·在单尺度情况下检测信号奇异性 | 第30-33页 |
·单尺度计算奇异性的原理算法 | 第30-31页 |
·软件实现 | 第31-32页 |
·实际效果 | 第32-33页 |
·信号频率与尺度的对应 | 第33-35页 |
第五章 软件应用结果与分析 | 第35-39页 |
·应用于随机电报(RTS)噪声 | 第35-37页 |
·应用于 MOSFET 噪声分析 | 第37-39页 |
第六章 结束语 | 第39-41页 |
·论文成果 | 第39页 |
·展望 | 第39-41页 |
致谢 | 第41-43页 |
参考文献 | 第43-47页 |
在研期间主要研究成果 | 第47页 |