| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-12页 |
| §1.1 引言 | 第6-8页 |
| §1.2 国内外研究现状 | 第8-10页 |
| §1.3 研究内容 | 第10-12页 |
| 第二章 测量系统的原理及组成 | 第12-19页 |
| §2.1 测量系统的原理 | 第12-14页 |
| §2.2 测量系统的组成 | 第14-17页 |
| §2.2.1 系统的硬件配置 | 第14页 |
| §2.2.2 电子经纬仪参数介绍 | 第14-15页 |
| §2.2.3 电子经纬仪通讯方式 | 第15-17页 |
| §2.3 测量系统的建立 | 第17-19页 |
| §2.3.1 相对定向参数的标定 | 第17-19页 |
| 第三章 测量精度的分析 | 第19-31页 |
| §3.1 采样点不确定度的分析 | 第20-21页 |
| §3.1.1 点位不确定度的分析 | 第20-21页 |
| §3.2 测角不确定度的分析 | 第21-25页 |
| §3.2.1 电子经纬仪的测角原理 | 第21-22页 |
| §3.2.2 电子补偿技术 | 第22-23页 |
| §3.2.3 电子经纬仪的检测方法及一测回水平方向标准差的计算 | 第23-24页 |
| §3.2.4 测角不确定度的实验 | 第24-25页 |
| §3.2 电子经纬仪的瞄准不确定度分析 | 第25页 |
| §3.2.1 人为因素的影响 | 第25页 |
| §3.3 相对定向不确定度的分析 | 第25-26页 |
| §3.4 基线长测量不确定度的分析 | 第26-29页 |
| §3.5 图形结构不确定度的分析 | 第29-31页 |
| §3.5.1 最佳点位精度 | 第29-30页 |
| §3.5.2 图形结构的影响 | 第30-31页 |
| 第四章 在大型紧缩场中的应用 | 第31-46页 |
| §4.1 研制大型紧缩场的意义 | 第31-32页 |
| §4.2 大型紧缩场的精密测量的要求 | 第32-33页 |
| §4.3 紧缩场中的数据处理方法 | 第33-36页 |
| §4.3.1 坐标系和坐标转换知识 | 第34-36页 |
| §4.4 动态数据处理模型的建立 | 第36-44页 |
| §4.4.1 基本原理与数学模型 | 第36-39页 |
| §4.4.2 优化模型的建立 | 第39-44页 |
| §4.5 紧缩场表面精度分析 | 第44-45页 |
| §4.6 本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 模型构建及图形交互显示 | 第46-67页 |
| §5.1 BEZIER曲线和BEZIER曲面 | 第46-48页 |
| §5.1.1 Bezier曲线的定义 | 第46-47页 |
| §5.1.2 Bezier曲线的性质 | 第47-48页 |
| §5.1.3 反推Bezier曲线控制点 | 第48页 |
| §5.1.4 Bezier曲面 | 第48页 |
| §5.2 B样条曲线和曲面 | 第48-55页 |
| §5.2.1 B样条的定义 | 第49页 |
| §5.2.2 三次B样条基函数的推导 | 第49-51页 |
| §5.2.3 三次B样条曲线的性质 | 第51-53页 |
| §5.2.4 B样条曲面的定义 | 第53页 |
| §5.2.5 均匀双三次B样条曲面的构造 | 第53-55页 |
| §5.3 反算B样条曲面的控制顶点 | 第55-60页 |
| §5.3.1 反算B样条曲线的控制顶点 | 第55-56页 |
| §5.3.2 反算B样条曲面的控制顶点 | 第56-59页 |
| §5.3.3 算法实现 | 第59-60页 |
| §5.4 交互显示模块的设计 | 第60-67页 |
| §5.4.1 OpenGL简介 | 第60-62页 |
| §5.4.2 OpenGL的主要功能 | 第62页 |
| §5.4.3 可视化设计的实现 | 第62页 |
| §5.4.4 OpenGL环境初始化部分 | 第62-65页 |
| §5.4.5 OpenGL应用程序编制 | 第65-67页 |
| 第六章 系统实现 | 第67-70页 |
| §6.1 测量系统的软件组成 | 第67-70页 |
| 总结与展望 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 附录 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |