| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-14页 |
| ·微分截面 | 第7-10页 |
| ·测量的意义 | 第10-11页 |
| ·测量的困难 | 第11-14页 |
| 第二章 8-13 MeV能区次级中子双微分截面的测量方法 | 第14-18页 |
| ·LANL方法 | 第14页 |
| ·PTB方法 | 第14-15页 |
| ·CIAE方法 | 第15-18页 |
| 第三章 实验方法 | 第18-26页 |
| ·中子源 | 第18-20页 |
| ·常规多探测器快中子飞行时间谱仪 | 第20-21页 |
| ·非常规多探测器快中子飞行时间谱仪 | 第21页 |
| ·探测器 | 第21-24页 |
| ·电子学 | 第24-25页 |
| ·计算机在线数据获取系统 | 第25-26页 |
| 第四章 实验数据获取和分析 | 第26-42页 |
| ·实验过程和数据获取 | 第26-28页 |
| ·实验数据的离线分析 | 第28-29页 |
| ·数据处理 | 第29-42页 |
| ·纯效应谱的获得 | 第30-31页 |
| ·γ峰位的确定 | 第31页 |
| ·Monte-Carlo模拟计算程序STREUER | 第31-33页 |
| ·输入数据 | 第33-36页 |
| ·模拟迭代过程 | 第36-42页 |
| 第五章 测量结果和讨论 | 第42-54页 |
| ·微分截面结果 | 第43-45页 |
| ·双微分截面结果 | 第45-51页 |
| ·数据的不确定度来源分析 | 第51页 |
| ·能量分辨率和角分辨 | 第51-53页 |
| ·总结 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-56页 |
| 附录 | 第56-78页 |
| 致谢 | 第78页 |