多功能弹对目标的侵彻过载存储测试技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| ·引言 | 第8页 |
| ·侵彻研究的背景及意义 | 第8-9页 |
| ·侵彻研究的背景 | 第8页 |
| ·侵彻测试研究的意义 | 第8-9页 |
| ·侵彻存储测试技术的国内外研究概况 | 第9-13页 |
| ·弹丸对目标的侵彻技术研究现状 | 第9-10页 |
| ·侵彻存储测试技术研究概况 | 第10-13页 |
| ·本文工作的主要内容 | 第13-15页 |
| 2 存储测试理论研究 | 第15-25页 |
| ·存储测试与引信起爆系统的组成 | 第15-17页 |
| ·存储测试系统的一般构成 | 第15-16页 |
| ·侵彻存储测试的系统构成 | 第16-17页 |
| ·引信起爆系统构成 | 第17页 |
| ·存储测试的设计原则 | 第17-22页 |
| ·技术原理可实现原则 | 第17-18页 |
| ·测试数据可回收性原则 | 第18页 |
| ·匹配及协调性原则 | 第18-22页 |
| ·存储测试信息的采样与量化 | 第22-25页 |
| ·采样 | 第22-23页 |
| ·量化 | 第23-25页 |
| 3 小口径弹引信存储测试系统关键技术 | 第25-31页 |
| ·存储测试技术及其特点 | 第25页 |
| ·引信用小型存储测试的关键技术 | 第25-28页 |
| ·微型化技术 | 第26页 |
| ·微噪声技术 | 第26-27页 |
| ·微功耗技术 | 第27-28页 |
| ·抗高过载技术 | 第28页 |
| ·电路抗干扰设计 | 第28-31页 |
| ·A/D转换中的抗干扰 | 第28-29页 |
| ·传感器的抗干扰 | 第29页 |
| ·地线设计 | 第29-30页 |
| ·去耦电容配置 | 第30页 |
| ·屏蔽方法的应用 | 第30-31页 |
| 4 基于不同要求的小口径弹用引信存储测试系统研究 | 第31-65页 |
| ·基于软目标侵彻存储测试系统的硬件设计 | 第31-51页 |
| ·基于软目标的测试系统的技术指标 | 第31页 |
| ·测试系统控制芯片的选择 | 第31-33页 |
| ·测试系统的电源设计 | 第33-35页 |
| ·测试系统的偏置电压设计 | 第35-37页 |
| ·信号放大电路设计 | 第37-40页 |
| ·低通滤波器设计 | 第40-43页 |
| ·数据存储方案设计 | 第43-46页 |
| ·存储测试系统控制电路设计 | 第46-51页 |
| ·基于硬目标侵彻存储测试系统的硬件设计 | 第51-60页 |
| ·测试系统控制芯片的选择 | 第51-54页 |
| ·A/D芯片的选择 | 第54-55页 |
| ·测试电源的设计 | 第55页 |
| ·存储测试系统控制电路设计 | 第55-56页 |
| ·A/D芯片及MCU内置铁电存储器的控制设计 | 第56-60页 |
| ·存储测试系统的低功耗设计 | 第60-61页 |
| ·通讯接口电路设计 | 第61-62页 |
| ·存储测试系统软件设计 | 第62-65页 |
| 5 侵彻多种目标引信起爆电路设计 | 第65-71页 |
| ·电路硬件设计 | 第65-68页 |
| ·控制电路 | 第65-66页 |
| ·电源电路 | 第66页 |
| ·前置放大电路及滤波 | 第66-67页 |
| ·发火电路 | 第67页 |
| ·解保电路 | 第67页 |
| ·硬件电路 | 第67-68页 |
| ·控制电路软件设计 | 第68-71页 |
| 6 存储测试系统加速度测试试验 | 第71-78页 |
| ·试验目的 | 第71页 |
| ·静态试验 | 第71-74页 |
| ·小落锤冲击试验 | 第74-76页 |
| ·试验误差分析 | 第76-78页 |
| 7 总结与展望 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-83页 |
