| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 引言 | 第6-10页 |
| ·研究背景和目的 | 第6-9页 |
| ·本文的内容安排 | 第9-10页 |
| 第二章 E-fuse单元和外围电路简介 | 第10-13页 |
| ·E-fuse单元物理结构和工作原理 | 第10-11页 |
| ·E-fuse外围电路结构 | 第11-12页 |
| ·小结 | 第12-13页 |
| 第三章 E-fuse单元性能分析 | 第13-32页 |
| ·E-fuse单元的工作原理 | 第13-15页 |
| ·两次I-V曲线测试法研究E-fuse单元的编程特性 | 第15-24页 |
| ·IP状态E-fuse性能研究 | 第16-20页 |
| ·CP状态E-fuse性能研究 | 第20-24页 |
| ·IBM两种不同编程机制可靠性分析 | 第24-27页 |
| ·E-fuse单元最优形状分析 | 第27-30页 |
| ·E-fuse接触电阻的影响 | 第30-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第四章 E-fuse读写电路研究 | 第32-36页 |
| ·IBM用于z9系列的E-fuse外围电路设计 | 第32-34页 |
| ·Intel的E-fuse外围电路设计 | 第34-35页 |
| ·小结 | 第35-36页 |
| 第五章 实际应用及测试结果 | 第36-50页 |
| ·E-fuse单元的选取(以0.13um工艺为例) | 第36页 |
| ·E-fuse外围电路结构 | 第36-37页 |
| ·各部分外围电路分析 | 第37-40页 |
| ·编程电路 | 第37-39页 |
| ·隔离电路 | 第39页 |
| ·读取电路 | 第39-40页 |
| ·测试结果分析 | 第40-49页 |
| ·第一次流片测试结果分析 | 第40-45页 |
| ·第二次流片测试结果分析 | 第45-49页 |
| ·第三次流片测试方案 | 第49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 第六章 设计总结 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |