慢正电子寿命谱仪电子学系统原型机的研制
| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-11页 |
| 目录 | 第11-19页 |
| 第一章 引言 | 第19-31页 |
| ·正电子新的发现 | 第19-20页 |
| ·正电子湮没过程 | 第20页 |
| ·正电子湮没实验方法 | 第20-24页 |
| ·正电子源 | 第21-22页 |
| ·正电子湮没寿命谱 | 第22-23页 |
| ·正电子湮没多普勒展宽谱 | 第23页 |
| ·正电子湮没角关联测量 | 第23-24页 |
| ·慢正电子束流技术 | 第24-25页 |
| ·脉冲式慢正电子束谱仪介绍 | 第25-27页 |
| ·本论文的主要工作及特点 | 第27-28页 |
| ·本论文的内容组织 | 第28-29页 |
| 参考文献 | 第29-31页 |
| 第二章 电子学系统设计的解决方案 | 第31-41页 |
| ·芬兰赫尔辛基技术大学的LEPLS | 第31-33页 |
| ·北京高能物理研究所的LEPLS | 第33-36页 |
| ·中国科学技术大学的LEPLS | 第36-39页 |
| ·小结 | 第39页 |
| 参考文献 | 第39-41页 |
| 第三章 脉冲调制系统 | 第41-75页 |
| ·系统指标要求 | 第41-43页 |
| ·整体结构 | 第43-45页 |
| ·时钟产生 | 第45-50页 |
| ·频率合成技术 | 第45-48页 |
| ·脉冲调制系统中的频率合成 | 第48-50页 |
| ·时钟分配 | 第50-52页 |
| ·精密延时 | 第52-53页 |
| ·信号成形 | 第53-59页 |
| ·快脉冲信号获得 | 第53-57页 |
| ·正弦信号获得 | 第57-59页 |
| ·功率放大器 | 第59-60页 |
| ·隔离与保护 | 第60-62页 |
| ·高压隔离 | 第60-61页 |
| ·阻抗匹配 | 第61页 |
| ·回波隔离 | 第61-62页 |
| ·FPGA | 第62-68页 |
| ·数据获取及命令执行 | 第63页 |
| ·UART | 第63-65页 |
| ·片内PLL | 第65-67页 |
| ·FPGA配置 | 第67-68页 |
| ·RS232收发器 | 第68-69页 |
| ·电源保护 | 第69页 |
| ·PCB设计的一些考虑 | 第69-70页 |
| ·电源和地 | 第70页 |
| ·高速信号布线 | 第70页 |
| ·计算机控制软件 | 第70-71页 |
| ·小结 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 第四章 时间测量系统 | 第75-119页 |
| ·系统指标要求 | 第75页 |
| ·整体结构 | 第75-77页 |
| ·时间测量 | 第77-85页 |
| ·定时技术 | 第77-81页 |
| ·前沿定时 | 第78页 |
| ·过零定时 | 第78-79页 |
| ·恒比定时 | 第79-81页 |
| ·时间测量技术 | 第81-85页 |
| ·数字计数器型TDC | 第81-82页 |
| ·延迟线 | 第82-83页 |
| ·"粗"计数+"细"时间测量组合 | 第83-84页 |
| ·时间幅度变换 | 第84-85页 |
| ·时间测量芯片TDC-GPX | 第85-88页 |
| ·TDC-GPX的时间测量原理 | 第85-86页 |
| ·TDC-GPX的延迟门"校正"和"调整" | 第86-87页 |
| ·TDC-GPX的工作模式和性能 | 第87页 |
| ·TDC-GPX的使用 | 第87-88页 |
| ·光纤模块 | 第88-89页 |
| ·USB模块 | 第89-94页 |
| ·USB总线介绍 | 第89-91页 |
| ·USB2.0控制器 | 第91-94页 |
| ·前沿定时方式的预研 | 第94-105页 |
| ·前沿定时甄别 | 第94-96页 |
| ·滤波成形 | 第96-101页 |
| ·电流积分 | 第96页 |
| ·高斯成形 | 第96-100页 |
| ·成形时间常数的确定 | 第100-101页 |
| ·幅度测量 | 第101-105页 |
| ·ADC | 第101-103页 |
| ·全差分运放 | 第103-105页 |
| ·FPGA | 第105-110页 |
| ·TDC接口 | 第105-106页 |
| ·ADC接口 | 第106-107页 |
| ·光纤接口 | 第107页 |
| ·USB接口 | 第107-108页 |
| ·控制单元 | 第108-109页 |
| ·FPGA配置 | 第109-110页 |
| ·其他部分 | 第110-112页 |
| ·电源设计 | 第110-112页 |
| ·过压保护电路 | 第112页 |
| ·计算机获取软件 | 第112-115页 |
| ·USB设备驱动程序 | 第112-114页 |
| ·WDM设备驱动程序模型 | 第112-113页 |
| ·驱动程序的开发类型 | 第113页 |
| ·Jungo WinDriver | 第113-114页 |
| ·USB用户程序 | 第114-115页 |
| ·小结 | 第115页 |
| 参考文献 | 第115-119页 |
| 第五章 系统地线初步设计方案 | 第119-129页 |
| ·地线 | 第119-123页 |
| ·什么是地线 | 第119页 |
| ·接地的目的 | 第119-120页 |
| ·形成地线干扰的原因 | 第120-121页 |
| ·防止地线干扰的方法 | 第121-123页 |
| ·系统地线的总体考虑 | 第123-124页 |
| ·系统地线的初步设计方案 | 第124-128页 |
| ·三地线方案 | 第124-126页 |
| ·两地线方案 | 第126-127页 |
| ·三级保护及板级保护方法 | 第127页 |
| ·其他说明 | 第127-128页 |
| ·小结 | 第128页 |
| 参考文献 | 第128-129页 |
| 第六章 电子学系统测试 | 第129-141页 |
| ·脉冲调制系统测试 | 第129-135页 |
| ·信号波形测试 | 第129-131页 |
| ·相位晃动测试 | 第131-133页 |
| ·相位调整测试 | 第133-135页 |
| ·聚束腔谐振测试 | 第135页 |
| ·时间测量系统的初步测试 | 第135-139页 |
| ·时间测量精度测试 | 第135-137页 |
| ·时间测量线性测试 | 第137-138页 |
| ·光纤误码率测试 | 第138-139页 |
| ·小结 | 第139页 |
| 参考文献 | 第139-141页 |
| 第七章 总结和展望 | 第141-145页 |
| ·工作总结 | 第141-142页 |
| ·工作展望 | 第142-145页 |
| 攻读学位期间发表文章 | 第145-147页 |
| 致谢 | 第147页 |
