| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-10页 |
| 第二章 BEPC-LINAC上的试验束简介 | 第10-17页 |
| ·北京正负电子对撞机 | 第10-11页 |
| ·试验束 | 第11-12页 |
| ·E1束流线 | 第12页 |
| ·E2束流线 | 第12-13页 |
| ·E3试验束流线 | 第13-15页 |
| ·屏蔽结构 | 第15页 |
| ·磁铁与电源 | 第15页 |
| ·真空系统与支架 | 第15-17页 |
| 第三章 π介子靶的设计 | 第17-26页 |
| ·电子束打靶产生π介子的基本原理 | 第17-18页 |
| ·内嵌式复合π介子产生靶的设计 | 第18-20页 |
| ·内嵌式复合靶 | 第18-19页 |
| ·复合靶材料的确定 | 第19-20页 |
| ·靶参数的Geant4模拟优化 | 第20-24页 |
| ·π介子角分布 | 第24-26页 |
| 第四章 磁谱议系统的设计 | 第26-43页 |
| ·E3线磁谱议的设计和参数 | 第26-30页 |
| ·E3次级粒子束的引入 | 第26-27页 |
| ·磁谱议的结构 | 第27页 |
| ·磁谱议系统的硬件设备及功能 | 第27-28页 |
| ·磁谱议系统硬件结构的性能与相关参数 | 第28-30页 |
| ·E3线上主要的探测器及性能 | 第30-43页 |
| ·闪烁光纤探测器 | 第30-35页 |
| ·基于GEM读出的TPC(GT) | 第35-37页 |
| ·闪烁计数器 | 第37-39页 |
| ·契仑科夫计数器 | 第39-41页 |
| ·E3粒子的鉴别 | 第41-43页 |
| 第五章 磁谱议的径迹重建和性能模拟测试 | 第43-55页 |
| ·E3线的动量重建 | 第43-46页 |
| ·径迹的确定 | 第43-44页 |
| ·动量重建 | 第44-45页 |
| ·粒子在Y方向的偏差对重建动量的影响 | 第45-46页 |
| ·双粒子事例重建 | 第46页 |
| ·磁谱议的性能模拟测试 | 第46-51页 |
| ·模拟方法 | 第46-48页 |
| ·E3磁谱议对单粒子的选择效率 | 第48-51页 |
| ·E3线单粒子的重建动量与分辨率 | 第51-53页 |
| ·重建动量方法的验证 | 第53-55页 |
| ·飞行时间差法 | 第53-54页 |
| ·重建动量的验证 | 第54-55页 |
| 结论 | 第55-56页 |
| 附录A Geant4程序的简介 | 第56-57页 |
| 附录B Geant4程序的的控制流程及各个模块详解 | 第57-64页 |
| B.1 Geant4程序控制流程 | 第57-58页 |
| B.2 Geant4模块 | 第58-64页 |
| B.2.1 几何体 | 第58-59页 |
| B.2.2 材料定义 | 第59页 |
| B.2.3 物理过程 | 第59-60页 |
| B.2.4 记数 | 第60-61页 |
| B.2.5 可视化 | 第61-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 硕士期间发表论文 | 第67页 |