复杂产品内部结构装配正确性X射线自动检测技术研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 1. 绪论 | 第12-27页 |
| ·研究背景、目的和意义 | 第12-13页 |
| ·与本论文相关技术的国内外研究现状 | 第13-25页 |
| ·工业 X 射线 DR 检测技术与系统集成 | 第14-16页 |
| ·计算机图像视觉自动识别技术及其在射线领域的应用 | 第16-18页 |
| ·X 射线图像的预处理技术 | 第18-21页 |
| ·目标图像分类识别算法 | 第21-25页 |
| ·论文研究内容 | 第25-27页 |
| 2. X射线自动检测系统的设计 | 第27-51页 |
| ·三维结构体全方位自动识别原理与总体结构流程 | 第27-38页 |
| ·三维结构体的全方位自动识别原理 | 第27-28页 |
| ·自动检测可行性的理论分析 | 第28-34页 |
| ·有限方位下对产品的快速检测 | 第34-37页 |
| ·自动检测系统总体结构流程 | 第37-38页 |
| ·射线成像系统的总体设计 | 第38-50页 |
| ·X 射线DR 系统的检测原理 | 第38页 |
| ·基于单相机的 X 射线成像系统 | 第38-40页 |
| ·自动检测成像系统总体设计 | 第40-41页 |
| ·系统优化设计原则 | 第41-46页 |
| ·系统关键模块的选取与设计 | 第46-49页 |
| ·自动检测系统整体工作节拍 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 3. 射线图像的预处理 | 第51-60页 |
| ·图像预处理综述 | 第51-52页 |
| ·图像降噪 | 第52-54页 |
| ·目标图像分割 | 第54-59页 |
| ·水平方向目标范围的确定 | 第55-57页 |
| ·垂直基准的确定 | 第57-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 4. 复杂产品内部结构状态的识别及特征提取技术 | 第60-97页 |
| ·多模式分类策略 | 第60-63页 |
| ·多类模式问题的并行识别 | 第61页 |
| ·多类模式问题的串行识别 | 第61-63页 |
| ·被检测产品与目标的结构类型及检测要求 | 第63-70页 |
| ·产品分类 | 第64-66页 |
| ·产品内部识别目标的分类 | 第66-70页 |
| ·图像模式识别算法的评价标准 | 第70-72页 |
| ·典型的多模式分类降维识别算法 | 第72-84页 |
| ·基于主成分分析 PCA 识别方法 | 第73-77页 |
| ·基于方向选择的投影特征识别方法 | 第77-84页 |
| ·基于单相机系统的构件内部三维结构特征提取 | 第84-93页 |
| ·复杂产品内部构件三维结构状态的特征选择 | 第85-90页 |
| ·分层面多目标特征提取技术 | 第90-91页 |
| ·全方位识别特征的提取 | 第91-92页 |
| ·提取识别特征基 | 第92-93页 |
| ·基于神经网络的产品内部结构状态的快速识别 | 第93-96页 |
| ·神经网络模型的建立 | 第93-95页 |
| ·BP 网络模型的缺陷分析及优化策略 | 第95-96页 |
| ·本章小结 | 第96-97页 |
| 5. X射线自动识别系统及应用 | 第97-113页 |
| ·硬件组成 | 第97-99页 |
| ·软件开发 | 第99-105页 |
| ·实际检测的主体流程 | 第99-100页 |
| ·总体结构 | 第100-101页 |
| ·软件功能模块分析及主要程序流程介绍 | 第101-105页 |
| ·现场应用试验与结果分析 | 第105-112页 |
| ·检测试验 | 第105-110页 |
| ·多阈值确定与识别准确率评估技术 | 第110-112页 |
| ·本章小结 | 第112-113页 |
| 6. 结论 | 第113-117页 |
| ·论文所做的工作 | 第113-115页 |
| ·本论文的创新点 | 第115页 |
| ·研究中的不足及今后的课题 | 第115-117页 |
| 参考文献 | 第117-128页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文及所取得的科研成果 | 第128-130页 |
| 致谢 | 第130页 |
