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Co/ITO薄膜体系中自旋相关输运效应研究

摘要第1-7页
Abstract第7-9页
第一章 绪论第9-19页
   ·自旋电子学简介及研究进展第9-14页
     ·巨磁电阻(GMR)第9-12页
     ·隧道磁电阻(TMR)第12-13页
     ·半导体自旋电子学第13-14页
   ·自旋相关输运的基本概念第14-17页
     ·自旋极化、自旋极化率第14-15页
     ·自旋相关散射第15-16页
     ·自旋弛豫(Spin Relaxation)第16页
     ·自旋注入与自旋积累效应第16-17页
   ·本论文研究的目的和意义第17-19页
第二章 纳米薄膜的制备及表征第19-29页
   ·薄膜的制备技术及原理第19-23页
     ·磁控溅射原理第20-21页
     ·射频溅射原理第21-22页
     ·脉冲激光沉积第22-23页
     ·分子束外延技术第23页
   ·样品的表征技术第23-29页
     ·纳米样品厚度的测量第23-24页
     ·薄膜样品表面形貌的表征第24-27页
     ·薄膜样品的的磁性表征第27-28页
     ·薄膜样品的电输运性质表征第28-29页
第三章 Co/IT0多层薄膜制备与性质研究第29-38页
   ·样品的制备与测量第29页
   ·实验结果与分析第29-37页
     ·磁学和电学性质第29-33页
     ·磁电阻随温度的变化第33-37页
   ·本章小结第37-38页
参考文献第38-40页
致谢第40-41页
硕士期间论文发表情况第41页

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