| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| ·铁电体及铁电薄膜 | 第9-12页 |
| ·铁电薄膜的研究历史 | 第10-11页 |
| ·铁电薄膜性质和相关应用 | 第11-12页 |
| ·铁电相变 | 第12-15页 |
| ·铁电相变类型 | 第12-14页 |
| ·铁电相变研究现状 | 第14-15页 |
| ·铁电畴结构 | 第15-17页 |
| ·铁电畴 | 第15-16页 |
| ·铁电畴的观测方法 | 第16-17页 |
| ·铁电失效 | 第17-18页 |
| ·本论文的主要内容 | 第18-19页 |
| 第2章 外场下多畴PZT 铁电薄膜相变分析 | 第19-28页 |
| ·立方基底多畴PZT 铁电薄膜的非线性热力势函数 | 第19-21页 |
| ·多畴PZT 铁电薄膜的自由能 | 第19-20页 |
| ·非线性热力学函数模型的建立 | 第20-21页 |
| ·多畴PZT 铁电薄膜相图 | 第21-22页 |
| ·外加应力和电场对相图的影响 | 第22-23页 |
| ·外加电场对多畴PZT 铁电薄膜的影响 | 第23-27页 |
| ·外加电场对相图的影响 | 第24-25页 |
| ·外加电场对铁电性能的影响 | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 外加电场下多畴PZT 铁电薄膜的电畴翻转 | 第28-36页 |
| ·扫描探针显微镜 | 第28-29页 |
| ·多畴PZT 铁电薄膜的畴结构 | 第29-31页 |
| ·多畴PZT 铁电薄膜原始畴观测 | 第29-30页 |
| ·外加电压下多畴PZT 铁电薄膜畴翻转 | 第30-31页 |
| ·多畴PZT 铁电薄膜的失配应变 | 第31-33页 |
| ·XRD 测量 | 第31-32页 |
| ·失配应变计算 | 第32-33页 |
| ·多畴PZT 铁电薄膜电畴翻转与相变的对比分析 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 基于Landau-Khalatnikov 理论的钝化层印记失效分析 | 第36-46页 |
| ·铁电存储器中的印记失效 | 第36-37页 |
| ·Landau-Khalatnikov 理论 | 第37-38页 |
| ·基于 LK 理论的钝化层印记失效模型 | 第38-41页 |
| ·钝化层印记失效模型的建立 | 第38-40页 |
| ·模型中参数的选择 | 第40-41页 |
| ·钝化层对铁电薄膜电容器铁电性能的影响 | 第41-45页 |
| ·不同钝化层厚度下电场和极化的时间演化 | 第41-44页 |
| ·不同钝化层厚度对电滞回线的影响 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 总结与展望 | 第46-48页 |
| ·论文总结 | 第46页 |
| ·工作展望 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第55页 |