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爆炸装置电路板残片图像的分割与识别

摘要第5-7页
abstract第7-8页
第一章 绪论第12-18页
    1.1 课题目的及意义第12页
    1.2 国内外研究现状第12-16页
        1.2.1 图像分割研究现状第12-14页
        1.2.2 图像识别研究现状第14-16页
    1.3 论文研究成果第16-17页
    1.4 论文结构安排第17-18页
第二章 电路板图像分割第18-38页
    2.1 引言第18-19页
    2.2 分割方法概述第19页
    2.3 Graph cuts第19-20页
    2.4 Grab cut第20-21页
        2.4.1 颜色模型第20-21页
        2.4.2 模型初始化第21页
        2.4.3 能量最小化第21页
    2.5 电路板图像分割第21-25页
        2.5.1 颜色空间第22-23页
        2.5.2 K-means第23-24页
        2.5.3 电路板区域提取第24页
        2.5.4 电路板对象分割第24-25页
    2.6 改进电路板图像分割第25-27页
        2.6.1 改进Grab cut初始化方式第25-27页
        2.6.2 模型超参数第27页
    2.7 基于轮廓形态及凸凹点的再分割第27-33页
        2.7.1 开运算第28页
        2.7.2 凸运算第28页
        2.7.3 凸运算在元器件分割中的应用第28-29页
        2.7.4 基于轮廓形态及凸凹点的分割规则第29-31页
        2.7.5 分割判别第31-32页
        2.7.6 分割结果第32-33页
    2.8 实验结果第33-36页
        2.8.1 实验数据第33-34页
        2.8.2 实验结果第34-36页
    2.9 本章小结第36-38页
第三章 基于CNN的电路板图像分割第38-52页
    3.1 引言第38-39页
    3.2 卷积神经网络第39-42页
        3.2.1 发展历史第39-40页
        3.2.2 CNN在图像分割中的应用第40-42页
    3.3 基于CNN的电路板图像分割第42-46页
        3.3.1 网络结构第42-43页
        3.3.2 ResNet第43-44页
        3.3.3 FPN(feature pyramid networks)第44-46页
        3.3.4 PPM(pyramid pooling module)第46页
    3.4 实验结果第46-50页
        3.4.1 电路板图像数据集第46-48页
        3.4.2 分割算法评价第48页
        3.4.3 分割结果第48-50页
    3.5 本章小结第50-52页
第四章 电路板残片图像识别第52-64页
    4.1 引言第52-53页
    4.2 方法概述第53页
    4.3 特征点提取第53-55页
    4.4 特征描述第55-57页
        4.4.1 SIFT描述第55页
        4.4.2 类形状上下文描述第55-57页
    4.5 比对策略第57-61页
        4.5.1 比对策略概述第57页
        4.5.2 特征点匹配第57页
        4.5.3 星型结构匹配第57-60页
        4.5.4 星型结构间空间分布一致第60-61页
    4.6 结构相似性(SSIM)第61页
    4.7 实验结果第61-63页
        4.7.1 电路板残片图像数据集第61-62页
        4.7.2 匹配结果第62-63页
    4.8 本章小结第63-64页
第五章 总结与展望第64-66页
    5.1 本文小结第64-65页
    5.2 未来工作展望第65-66页
参考文献第66-70页
致谢第70-71页
攻读学位期间发表的学术论文第71页

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