中文摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5-7页 |
引言 | 第12-15页 |
第一章 中子位置探测技术发展 | 第15-32页 |
1.1 中子源发展 | 第15-17页 |
1.1.1 同位素中子源 | 第15页 |
1.1.2 加速器中子源 | 第15页 |
1.1.3 中国散裂中子源 | 第15-17页 |
1.1.4 反应堆中子源 | 第17页 |
1.2 中子探测原理 | 第17-18页 |
1.3 基于GEM的中子探测技术发展 | 第18-31页 |
1.3.1 ~3He管中子成像 | 第18-19页 |
1.3.2 GEM探测技术发展 | 第19-20页 |
1.3.3 国内外基于GEM的中子探测器的最新进展 | 第20-27页 |
1.3.4 多路集成电子学及数据获取系统国内外研究进展 | 第27-31页 |
1.4 本章小结 | 第31-32页 |
第二章 快中子探测过程模拟 | 第32-43页 |
2.1 模拟软件介绍 | 第32-33页 |
2.1.1 Geant4 蒙特卡洛模拟程序介绍 | 第32-33页 |
2.1.2 Garfield++介绍 | 第33页 |
2.2 MicroMegas快中子探测器模拟 | 第33-36页 |
2.3 径迹识别和重建 | 第36-42页 |
2.4 本章小结 | 第42-43页 |
第三章 APV-25 芯片数据获取系统开发 | 第43-63页 |
3.1 多路集成电子学介绍 | 第43-45页 |
3.2 旧数据获取系统介绍 | 第45-46页 |
3.3 数据获取板的硬件设计 | 第46-57页 |
3.3.1 芯片配置 | 第46-48页 |
3.3.2 芯片读出 | 第48-49页 |
3.3.3 背板 | 第49-50页 |
3.3.4 母板 | 第50-52页 |
3.3.5 固件设计 | 第52-55页 |
3.3.6 固件资源占用 | 第55-56页 |
3.3.7 数据结构 | 第56-57页 |
3.4 数据获取软件设计 | 第57-59页 |
3.5 软硬件联调与电子学测试 | 第59-62页 |
3.5.1 软硬件联调 | 第59-60页 |
3.5.2 电子学测试 | 第60-62页 |
3.6 本章小结 | 第62-63页 |
第四章 位置灵敏GEM探测器搭建、测试及Cluster甄别算法的开发 | 第63-77页 |
4.1 GEM探测器搭建 | 第63-65页 |
4.1.1 GEM探测器外壳 | 第63-64页 |
4.1.2 读出板设计 | 第64页 |
4.1.3 电子学与读出板连接线 | 第64-65页 |
4.2 探测器性能测试 | 第65-71页 |
4.2.1 实验设置 | 第66-68页 |
4.2.2 位置分辨 | 第68页 |
4.2.3 能量分辨 | 第68-69页 |
4.2.4 校徽成像 | 第69-71页 |
4.3 在线Cluster重建 | 第71-76页 |
4.3.1 Cluster甄别 | 第71页 |
4.3.2 甄别原理 | 第71-72页 |
4.3.3 重建模块介绍 | 第72-73页 |
4.3.4 重建模块测试 | 第73-74页 |
4.3.5 重建模块的资源消耗 | 第74页 |
4.3.6 重建模块的时间消耗、压缩效率和限制 | 第74-75页 |
4.3.7 实验数据测试 | 第75-76页 |
4.4 本章小结 | 第76-77页 |
第五章 α粒子顶点修正实验 | 第77-88页 |
5.1 实验设置 | 第77-80页 |
5.2 数据分析 | 第80-82页 |
5.3 结果与讨论 | 第82-87页 |
5.3.1 传统重心法 | 第82-83页 |
5.3.2 时间外推法 | 第83-87页 |
5.3.3 在线径迹修正 | 第87页 |
5.4 本章小结 | 第87-88页 |
第六章 热中子顶点修正 | 第88-101页 |
6.1 基于涂硼漂移极的热中子探测原理 | 第88页 |
6.2 实验设置 | 第88-91页 |
6.2.1 涂硼漂移极 | 第88-89页 |
6.2.2 中子源 | 第89-90页 |
6.2.3 探测器设置 | 第90页 |
6.2.4 探测环境 | 第90-91页 |
6.3 数据分析和讨论 | 第91-100页 |
6.3.1 时间外推法与传统重心法对比 | 第91-93页 |
6.3.2 γ 本底甄别-能量沉积甄别 | 第93-96页 |
6.3.3 γ 本底甄别-上升时间甄别 | 第96-100页 |
6.3.4 影响位置分辨的因素 | 第100页 |
6.4 本章小结 | 第100-101页 |
第七章 总结和展望 | 第101-103页 |
7.1 总结 | 第101-102页 |
7.2 展望 | 第102-103页 |
参考文献 | 第103-111页 |
在学期间的研究成果 | 第111-112页 |
致谢 | 第112页 |