面向感应热成像的高频两相电源研制
| 致谢 | 第6-7页 |
| 摘要 | 第7-8页 |
| abstract | 第8-9页 |
| 1 绪论 | 第16-23页 |
| 1.1 引言 | 第16页 |
| 1.2 研究背景和意义 | 第16-17页 |
| 1.2.1 无损检测技术概述 | 第16页 |
| 1.2.2 激励电源的研究意义 | 第16-17页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第17-20页 |
| 1.3.1 感应热成像缺陷检测技术的国内外现状 | 第17-19页 |
| 1.3.2 高频电源国内外研究现状 | 第19-20页 |
| 1.3.3 国内外研究现状评述 | 第20页 |
| 1.4 论文研究内容及组织结构 | 第20-22页 |
| 1.4.1 论文主要研究内容 | 第20-21页 |
| 1.4.2 论文组织及结构 | 第21-22页 |
| 1.5 论文创新点 | 第22页 |
| 1.6 本章小结 | 第22-23页 |
| 2 电源系统方案及探头参数优化 | 第23-33页 |
| 2.1 引言 | 第23页 |
| 2.2 感应热成像缺陷检测原理 | 第23-24页 |
| 2.3 旋转磁场理论 | 第24-26页 |
| 2.3.1 两路同频时的旋转磁场 | 第24-26页 |
| 2.3.2 两路不同频时的旋转磁场 | 第26页 |
| 2.4 高频两相激励电源系统方案 | 第26-28页 |
| 2.5 ANSYS Maxwell有限元仿真软件 | 第28-29页 |
| 2.6 复合式双U型探头有限元仿真 | 第29-32页 |
| 2.6.1 复合式双U型激励探头结构 | 第29页 |
| 2.6.2 复合式双U型探头仿真优化 | 第29-32页 |
| 2.7 本章小结 | 第32-33页 |
| 3 两相激励电源系统硬件设计与实现 | 第33-61页 |
| 3.1 引言 | 第33页 |
| 3.2 谐振槽路及工作状态仿真分析 | 第33-40页 |
| 3.2.1 串联谐振及并联谐振 | 第33-35页 |
| 3.2.2 工作状态仿真分析 | 第35-40页 |
| 3.3 数字锁相环 | 第40-44页 |
| 3.3.1 异或门鉴相器 | 第40-41页 |
| 3.3.2 RC低通滤波器 | 第41页 |
| 3.3.3 DDS数字振荡器 | 第41-44页 |
| 3.4 电源系统硬件电路设计 | 第44-56页 |
| 3.4.1 系统供电电路 | 第44-46页 |
| 3.4.2 阻抗匹配变压器的计算 | 第46-49页 |
| 3.4.3 控制电路设计 | 第49-51页 |
| 3.4.4 功率器件的选择及高速驱动分析 | 第51-54页 |
| 3.4.5 过流保护电路 | 第54-56页 |
| 3.5 电路寄生参数对系统性能的影响 | 第56-60页 |
| 3.6 本章小结 | 第60-61页 |
| 4 两相激励电源系统软件设计与实现 | 第61-67页 |
| 4.1 引言 | 第61页 |
| 4.2 系统软件流程 | 第61-62页 |
| 4.3 二分法频率跟踪 | 第62页 |
| 4.4 AVR与FPGA的并行通信 | 第62-65页 |
| 4.5 基于Windows的软件界面设计 | 第65-66页 |
| 4.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 5 两相激励电源系统实验结果分析 | 第67-73页 |
| 5.1 引言 | 第67页 |
| 5.2 实验平台搭建 | 第67-68页 |
| 5.3 两相电源系统性能测试 | 第68-70页 |
| 5.4 不同走向裂纹检测实验 | 第70-72页 |
| 5.5 本章小结 | 第72-73页 |
| 6 结论与展望 | 第73-75页 |
| 6.1 结论 | 第73-74页 |
| 6.2 展望 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 附录A 源程序 | 第78-86页 |
| A.1 AVR源程序 | 第78-81页 |
| A.2 FPGA源程序 | 第81-86页 |
| 作者简历 | 第86页 |
