| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 热电材料研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 Bi_2Te_3热电材料 | 第11-13页 |
| 1.4 课题的研究设想和研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 热电原理及应用 | 第15-21页 |
| 2.1 热电原理 | 第15-16页 |
| 2.1.1 塞贝克效应 | 第15页 |
| 2.1.2 珀尔贴效应 | 第15-16页 |
| 2.1.3 汤姆逊效应 | 第16页 |
| 2.2 热电材料的应用 | 第16-19页 |
| 2.2.1 热电发电器件 | 第17-18页 |
| 2.2.2 热电制冷器件 | 第18-19页 |
| 2.3 材料热电性能提高途径 | 第19-20页 |
| 2.3.1 热电优值 | 第19页 |
| 2.3.2 热电优值的优化 | 第19-20页 |
| 2.4 本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 Bi_2Te_3薄膜制备及测试手段 | 第21-31页 |
| 3.1 Bi_2Te_3薄膜制备方法 | 第21-23页 |
| 3.2 Bi_2Te_3薄膜制备 | 第23-25页 |
| 3.3 XRD测量 | 第25页 |
| 3.4 SEM测量 | 第25-26页 |
| 3.5 Seebeck系数测量方法 | 第26-27页 |
| 3.6 霍尔效应测量方法 | 第27-28页 |
| 3.7 3ω法测量方法 | 第28-29页 |
| 3.8 本章小结 | 第29-31页 |
| 第四章 Bi/Te多层薄膜热电性能研究 | 第31-49页 |
| 4.1 退火温度对Bi/Te多层薄膜结构和性能的影响 | 第31-35页 |
| 4.1.1 XRD分析 | 第32-33页 |
| 4.1.2 SEM分析 | 第33-34页 |
| 4.1.3 热电性能分析 | 第34-35页 |
| 4.2 退火时间对Bi/Te多层薄膜结构和性能的影响 | 第35-43页 |
| 4.2.1 XRD分析 | 第36-37页 |
| 4.2.2 SEM分析 | 第37-41页 |
| 4.2.3 热电性能分析 | 第41-43页 |
| 4.3 薄膜结构对其热电性能的影响 | 第43-45页 |
| 4.4 不同Te原子含量对Bi/Te多层薄膜热电性能的影响 | 第45-48页 |
| 4.5 本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 结论 | 第49-51页 |
| 参考文献 | 第51-55页 |
| 攻读学位期间所取得的研究成果 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
